关于XRF的检测深度问题

应助达人

这个应该是做不到的，据我所知，XRF一般都是做总量的比较多，控制不了深度，你要测这些微区上的差异最好还是用精度更好一点的设备吧

我的意思是测总量到底准不准了。比如测试的样品是颗粒状，每个都有100微米大小，如果XRF探测深度只有100微米，那么测总量就不准了吧。

应助达人

要测试的准，还的定量分析，XRF测试样品有要求 1.所有样品应该覆盖光谱仪测量窗口，2，聚合物轻合金至少5mm厚，3液体最小厚度15mm,4其它合金大约1mm

这个意思是，XRF能覆盖毫米级别厚度的样品？

应助达人

这个只是要求

XRF分析只能检测表层，一般要求样品的表层要具有代表性，直接测，或者破坏成粉末然后在压片检测，或者熔融成玻璃片。感觉后两种好像不是你想要的方法。直接测的话，如果你的样品上下两侧都很具有代表性，可以分别测下上表层和下表层。