【求助】请问如何标定高分辨照片中的晶面间距d值，并且这个d值能否做为判断物质的依据？

通常不在像上测量面间距（当然也可以），最好的方法是将HRTEM作FFT后，在其倒空间测量。这个d值只能作为判断物质的参考。如果是已知相好说点，如果是未知相最好用衍射。

谢谢了。

再问一下，digitalmicrograph那个软件里的lineplot tools那个工具是怎么用的啊？看起来好像是用来标d值得。

请问什么样的薄膜可以用超声震荡下来做TEM？
我要做一个半在导电玻璃上的半导体薄膜（50nm厚）的透射电镜分析，是把薄膜用刀片刮下来一点，只有1微克左右，肉眼刚刚能看到的粉末，计划用酒精把粉末分散后用铜网捞起再分析，请问这样做可以吗？
直接用镀在导电玻璃上半导体薄膜直接分析可不可以？要把此导电玻璃切成多小才能做？关键怕导电性不好。

请问什么样的薄膜可以用超声震荡下来做TEM？
我要做一个半在导电玻璃上的半导体薄膜（50nm厚）的透射电镜分析，是把薄膜用刀片刮下来一点，只有1微克左右，肉眼刚刚能看到的粉末，计划用酒精把粉末分散后用铜网捞起再分析，请问这样做可以吗？
直接用镀在导电玻璃上半导体薄膜直接分析可不可以？要把此导电玻璃切成多小才能做？关键怕导电性不好。

我做的薄膜和基体之间结合力不是很强，所以可以用超声波振下来。你做的薄膜用刀片刮下来再分散应该是可以的。不过最好请教一下做实验的老师。

我这里有一个TEM样品制备的pdf文档，你可以参考一下。
TEM样品制备

请问高分辨像怎样做FFT变换呢〉？麻烦推荐一些参考文献或书！多谢

我也很想知道，希望高手指点。。。。