谱线干扰表现形式

由于ICP光源激发能量高，产生大量的发射谱线，在200～1000nm波长范围内据统计有100余万条谱线，平均每0.1nm就分布有100余条，几乎每个元素的每条分析线均受到不同程度的干扰。这种干扰主要有3种形式：

（1）分析线落于背景干扰的带装光谱上；

（2）分析线与干扰谱线占有基本相同的波长，谱线几乎完全重叠；

（3）分析线与干扰谱线部分重叠。

在建立一个ICP-OES分析方法时都必须先选定分析物的谱线，由于样品基体元素以及分析物之间发射的谱线可能存在光谱干扰，故在谱线的选择时经常要查阅相关元素的谱线资料，特别在分析物比较多，基体复杂的时候，选择一条干扰尽量小的谱线难度更大。