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弱磁粉末,不同设备拍出来差距太大了,求测试机构

透射电镜(TEM)

  • Mn-O-Zn化合物,纳米片状物质,用JEM-2100F拍出来效果很好,晶格条纹明显,后来这台设备不拍弱磁了,换了FEI Talos F200XG2 AEMC,结果拍出来啥也没有,糊的要命,求助大家,这是设备的问题吗,有JEM-2100F能接弱磁样片的测试机构吗,请联系我,谢谢!

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  • 蓝莓口香糖

    第1楼2022/01/04

    样品容易出现辐照损伤吗?强光下是不是容易变成非晶?

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  • m3033883

    第2楼2022/01/04

    应助达人

    这就是两个机器的差距。没有办法。

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  • imrszl

    第3楼2022/01/04

    不应该,我用的也是Talos F200X,能拍出Co、Ni、alpha-Fe的原子像,之前也帮室友看过磁性薄膜的晶格像,结果都很好。是不是光路有问题或者照的区域带轴不正呀?

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  • WYASBY

    第4楼2022/01/04

    不知道呀,都是在外面的测试机构做的,不知道是设备问题还是操作老师没调好

    imrszl(Ins_509a97bd) 发表:不应该,我用的也是Talos F200X,能拍出Co、Ni、alpha-Fe的原子像,之前也帮室友看过磁性薄膜的晶格像,结果都很好。是不是光路有问题或者照的区域带轴不正呀?

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  • WYASBY

    第5楼2022/01/04

    不会的,以前做过,就是第一张拍出来的图,晶格条纹都很清晰,后面因为那台设备不拍磁性样片了,然后换设备就拍不出来了

    蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:样品容易出现辐照损伤吗?强光下是不是容易变成非晶?

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  • 蓝莓口香糖

    第7楼2022/01/05

    看上去更象是样品本身有差别。

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  • 上下求索

    第8楼2022/01/19

    您好现在还需要测试么,我可以做

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  • 天黑请闭眼

    第9楼2022/01/19

    这两种电镜我都用过,高分辨没有明显的区别, 所以同意蓝莓版主意见,感觉第二次的样品结晶有问题。请对比两者的XRD谱图,后者是否有明显的峰宽化。

    还有一个区别是第一次可能用了微栅,没有碳膜背景,第二次应该就是用了碳膜拍的,但不至于引起这么大的差异。

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