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【实战宝典】为什么ICP-MS会有不同的测量模式?测量时仪器内部的动作和算法是怎样的?channel和sweep是什么意思?这两个参数的设定对测定有什么影响吗?
小官人-闭关修炼中
2022/06/21
私聊
ICP-MS
问题描述:
为什么
ICP-MS
会有不同的测量模式?测量时仪器内部的动作和算法是怎样的?
channel
和
sweep
是什么意思?这两个参数的设定对测定有什么影响吗?
解答:
ICP-MS
的四极杆扫描速度在
2000amu/s
左右,每扫描到一个质量数处,比如说从
V51
到
Cr52
,电压从一个值变到另一个值,跳转时间
slew time
通常是
1
微秒,电压改变会有个过冲,你让它到
100
,它一个没刹住,就冲到
101
了,这就需要回调,过一会才能稳定下来,这叫
settle time
,这个时间在
100
微秒左右,然后才是停在这个地方进行测量,这叫
dwell time
,用户可以自己设,在
100
微秒左右。检测器的速度就很快了,
ETP
检测器,四极杆上用的,
15
纳秒测一次,飞行时间上用的,
2
纳秒测一次。
如果做质量轴校正,需要把几段质量范围峰形扫出来,这就是“龟行”扫描模式,只能像蜗牛似的,一步一步地往前爬,每个
amu
测
20
次,用这
20
个数据点(
20
个
channel
)把峰形描出来,通过峰形,以仪器的控制参数(还不是电压,是一个综合参数)为纵坐标,以这些峰形的峰高处对应的质量数为横坐标,作图,通常应该是线性的,这样就可以通过几个元素(通常用
Be
、
Co
、
In
、
U
或
Li
、
Y
、
Bi
)就把所有元素的同位素的控制参数定下来了,这个过程叫
Tunning
,调谐,实际上就是先把
ICP-MS
质谱图的
X
轴搞准了,谱图如果在
X
轴上的位置没搞准,仪器的性能就很难优化好。
Optimize
指的是对
Y
轴的优化,等离子体准直,采样深度,雾化气流量,透镜电压,这些参数的优化都是以提升灵敏度为主的,就是说,同样的浓度,谱峰越高越好,当然有时候也需要折中,比如同时氧化物比值和双电荷比值不能高。
很多人搞不清,为什么仪器优化要有两个,又是
Tunning
,又是
Optimize
,其实这两个的作用是不同的,一个在
X
轴,站位很重要,立场很重要,站错了队,是要命的事,一个在
Y
轴,要努力往高位走,不想当将军的士兵不是好士兵嘛,这是以站位正确为前提的,站位不对,不可能到高位,即便侥幸到了高位,也是错误的。
实际测样品的时候,就不需要连续扫描了,需要测哪个,直接跳过去就行,这就是“兔跳”跳峰模式。既然都跳峰了,为了节省时间,直接跳到峰高处测量就得了,这时候通道数
channel
就是
1
,但这个点是不是峰高,其实是不知道的,仪器会有质量漂移,那怎么办呢?可以测峰顶上的
3
个位置,通道数
channel
就是
3
,即便有质量漂移,在峰高的两肩,左肩高点右肩低,右肩高点左肩低,可以有一定的补偿。这个补偿也有个前提,就是质量漂移不能太大,一般要求
8
小时漂移不超过
0.05amu
,一个
amu
的谱峰
20
个点,
0.05
怎么来的?就是
1/20
呀。意思就是说,一个谱峰
20
个点,在峰高的位置,质量漂移,或左或右最多漂移不能超过
1
个点。
四极杆有扫描和跳峰两种工作模式,检测器也有两种工作模式,信号小的时候,来一个数一个,这种模式叫脉冲,跟中医号脉差不多,如果来得太多太快,数不过来了,就直接测电流,这种模式叫模拟,为啥叫模拟呢?因为前面脉冲是数字电路,对应的当然是模拟电路啦。
检测器实物图
检测器中间有个甄别电路,信号超过
200
万
cps
,就直接以电流的方式读出了。既然有两种工作模式,那就需要将两者测得的信号进行换算,这就是检测器的双模式校正,由于不同元素的这个检测器双模校正系数都不一样,同一个元素随着仪器条件的不同,双模校正系数也会变,所以用双模式分析时,最好使用当时的双模校正系数。
一个和尚有水吃,七个和尚饿死三,上图可见,当脉冲来得太快,仪器的计数是偏低的,这种叫“死时间效应”,检测器在瞬间就像死了一样,没有反应了。
以上内容来自仪器信息网《
ICP-MS
实战宝典》
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