仪器信息网APP
选仪器、听讲座、看资讯

x-ray ct无损检测

扫描电镜(SEM/EDS)

  • X-Ray,即可显示出待测物的内部结构,进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题的区域。
    服务内容:1.观测DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、Flipchip等不同封装
    的半导体、电阻、电容等电子元器件以及小型PCB印刷电路板
    2.观测器件内部芯片大小、数量、叠die、绑线情况
    3.观测芯片crack、点胶不均、断线、搭线、内部气泡等封装
    缺陷,以及焊锡球冷焊、虚焊等焊接缺陷
猜你喜欢最新推荐热门推荐更多推荐
举报帖子

执行举报

点赞用户
好友列表
加载中...
正在为您切换请稍后...