近日,清软微视(杭州)科技有限公司(以下简称”清软微视“)自主研发的 SiC 衬底和外延缺陷检测设备 Omega 9880 成功中标国内某知名 SiC 研究院相关设备招标项目,并已成功签订采购合同。
该研究院主要聚焦 SiC 功率半导体材料缺陷表征、器件设计、器件制造工艺、封装工艺开发等主要方向,重点突破 SiC 材料与器件关键共性技术及先进制造工艺。
清软微视作为清华大学知识产权转化的高新技术企业,布局了 SiC 从衬底、外延、芯片到器件模组的全产业链检测装备,打通了 SiC 全制程段缺陷数据,为 SiC 缺陷的转化、关联和器件的失效分析奠定了数据基础。结合清软微视与该研究院各自的科研优势,双方将在SiC外延和芯片的缺陷表征和分析方面展开深度合作。