原子力显微镜（Atomic Force Microscope，简称AFM）是一种用于表面形貌分析的扫描探针显微镜技术，它能够实现纳米级别的高分辨率成像。AFM通过一个尖锐的探针与样品表面进行物理接触，探针安装在一个可以感应其微小偏转的悬臂上。当探针在样品表面上方扫描时，样品表面的不平整会导致探针的悬臂发生偏转或震动，这些变化被传感器检测并记录下来，然后转换成表面形貌信息，形成样品表面的三维图像。AFM可以用于多种材料的研究，包括但不限于金属、半导体、聚合物以及生物样本等，无论是导电还是非导电材料都能适用。
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