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【求助】怎样根据粉末衍射数据分析样品的层状结构呢？

greigite

2007/06/05

X射线衍射仪（XRD）

从文献上看到一个低角度的XRD粉末衍射数据，文章中说，根据该数据可以判断该粉末样品具有“Layered Structures”。
现在的问题是：有谁知道怎么通过该数据判断它是层状结构呢？是否有公式或理论在里面呢？有知道的兄弟姐妹们帮帮忙吧。
相关的粉末衍射的数据和正文如下。谢谢大家

文章内容：
A representative example of the X-ray diffraction patterns
of our polycrystalline samples of copper(i) thiolates is shown
in Figure 1. All the compounds produce a series of intense
reflections, which are successive orders of diffraction from a
layer structure, and can be indexed as (0k0) reflections with
k《7.

相关的粉末衍射的数据如下：

Table S8. X-ray diffraction data of a polycrystalline sample of CuSC12H25

Angle d1(Å) d2(Å) Peak width Peak-int. Back-int. Rel-int. Signif.
2.450 36.0313 36.1199 0.100 400 50 36.5 3.40
3.380 26.1191 26.1834 0.060 177 50 16.1 1.74
4.885 18.0750 18.1195 0.140 228 50 20.8 3.41
7.345 12.0259 12.0555 0.160 404 52 36.9 3.86
9.810 9.0089 9.0311 0.060 219 58 20.0 1.41
10.18 8.6823 8.7037 0.060 125 58 11.4 1.67
12.25 7.2194 7.2372 0.240 310 67 28.3 3.56
14.80 5.9808 5.9955 0.200 110 85 10.1 1.19
17.18 5.1572 5.1699 0.320 166 96 15.2 1.47
18.62 4.7615 4.7732 0.240 156 104 14.3 1.90
19.81 4.4781 4.4891 0.200 1096 114 100.0 3.58
21.095 4.2081 4.2185 0.240 172 119 15.7 1.20
23.355 3.8058 3.8151 0.400 458 135 41.8 1.47
24.88 3.5759 3.5847 0.400 146 144 13.4 1.02
26.885 3.3136 3.3217 0.240 272 154 24.8 1.67
28.060 3.1774 3.1852 0.800 174 161 15.9 1.20
29.690 3.0066 3.0140 0.480 164 169 15.0 1.18
33.810 2.6490 2.6555 0.480 204 188 18.7 3.83
38.420 2.3411 2.3469 0.640 159 180 14.5 1.28
40.260 2.2383 2.2438 0.640 225 182 20.5 1.27
45.575 1.9888 1.9937 0.480 216 190 19.7 1.67
65.590 1.4222 1.4257 0.240 149 156 13.6 1.07

最后，非常感谢能够帮忙的仁兄们！

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