| 型号： | QE-2100 |
| 产地： | 日本 |
| 品牌： | 日本大塚电子 |
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量子效率测量系统QE-2100
产品特点：
*瞬间测得绝对量子效率（绝对量子产额）
*可去除激发荧光光谱
*积分半球系统，实现高亮度测量（专利技术）
*低杂光多频分光检出器，大幅度减少紫外域杂光
*专用软件，操作简便
*试料固定治具容易安装和拆卸
*紧凑结构，占用空间少
*任意测试波长可选
*设定步进值，可自动测量
*可测量粉剂、溶液、固体、薄膜
*丰富的解析功能
——量子效率（量子产额）
——测量激发波长依赖性
——测量发光光谱
——测量PL激发光谱
——测量EEM（Excitation Emission Matrix）
应用领域：
*用于测量LED、有机EL用荧光体的量子效率（量子产额）
*用于测量薄膜形状样品的透射荧光、反射荧光的量子效率（远程荧光粉用荧光体样品等）
*测量量子点、荧光探针、生物领域、有机化合物的荧光
*测量色素敏化太阳能电池的量子效率（量子产额）
*用于测量络化化合物
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