| 型号： | RETS-100nx |
| 产地： | 日本 |
| 品牌： | 日本大塚电子 |
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相位差测量装置RETS-100nx
RETS-100nx是一款适用于各种薄膜的相位差（延迟）测量装置，如OLED偏光片、多层相位差膜、IPS液晶相位差膜偏光片等。
可以高速·高精度测得超高（Re.60000nm）相位差。
“不剥离、非破坏”状态下，测量多层薄膜的每层相位差和轴角。
此外，软件操作简单、使用方便且测量精度高。
■ 高精度
测量多波长实现高精度
＜高精度的原因＞
?使用大塚电子自社的高性能瞬间多通道光谱仪。
?获得数据量很多的透过率信息，实现高精度测量。
（获得约个500波长的透过率信息、是其他公司同类产品的约50倍）
■ 宽测量范围（相位差：0 ～ 60000nm）
■ 可测量相位差的波长分散形状
■ 高相位差
■ 测量测量 -不剥离、非破坏测量多层薄膜的每层相位差及轴角-
■ 光学系
固定平台
旋转平台
式 样
项目 | 相位差测量装置RETS-100nx |
测量项目（薄膜、光学材料） | 相位差（波长分散）、慢轴、Rth*1、3次元折射率*1等 |
测量项目（偏光片） | 吸收轴、偏光度、消光比、各种色度、各种透过率等 |
测量项目（液晶Cell） | Cell Gap、预倾角*1、扭曲角、配向角等 |
相位差测量范围 | 0 ～ 60,000nm |
相位差重复性 | 3σ≦0.08nm （水晶波长板 约600nm） |
Cell Gap测量范围 | 0 ～ 600μm （Δn=0.1的情况） |
Cell Gap重复性 | 3σ≦0.005μm （Cell Gap约3μm、Δn=0.1的情况） |
轴检出重复性 | 3σ≦0.08° （水晶波长板 约600nm） |
测量波长范围 | 400 ～ 800nm （可选择其他波长） |
检出器 | 瞬间多通道光谱仪 |
测量光斑 | φ2mm （标准式样） |
光源 | 100W 卤素灯 |
数据处理部 | PC、显示器 |
平台尺寸：标准 | 100mm × 100mm （固定平台） |
选配 | · 超高相位差测量 |
*1 需要自动倾斜旋转平台（选配件）
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