产品信息
特点
·采用线扫描方式检测整面薄膜
·硬件·软件均为创新设计
·作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援
·实现高精度测量（已获取专利）
·实现高速测量
·不受偏差影响
·可对应宽幅样品（TD方向最多可测量10m）
式样
| 型号： | line scan |
| 产地： | 日本 |
| 品牌： | 日本大塚电子 |
| 评分： |
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