| 型号： | nanoSAQLA |
| 产地： | 日本 |
| 品牌： | 日本大塚电子 |
| 评分： |
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纳米粒度仪nanoSAQLA
nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径的（粒径0.6nm~10um）的装置。
支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。
另外，这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量”的新产品。
特长
1台便可实再5个样品的连续测量
实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品
可以改变每个样品的条件进行测量
可以对应从稀薄到浓厚的样品
标准测量时间1分的高度测量
自动调整从浓厚系到稀薄系样品的最佳测量位置，实现约1分钟的高速测量
配备简单测量功能(点击一键即可开始测量)
没有任何复杂的操作，简单易懂的软件
因为每个样品槽都是独立的，所以不用担心接触污染。
搭载温度梯度功能
测量范围（理论值）
粒径0.6nm～10μm
浓度范围 0.00001～40％
温度范围0～90℃*
型号 | 多检体纳米粒径测量系统 |
測量原理 | 动态光散射法（光子相关法） |
光源 | 高功率半导体激光（660nm、70mW） *1 |
检出器 | 高感度APD |
连续测量 | 最多5个样品 |
测量范围 | 0.6nm ～ 10μm |
浓度范围 | 0.00001 ～ 40% *2 |
温度范围 | 0 ～ 90℃ （具备温度梯度功能） *3 |
样品容量 | 四面透光比色皿：1.2mL～、微量比色皿：20μL～ |
尺寸 | W240 X D480 X H375 mm |
电压 | 220V 50/60Hz、250VA |
重量 | 约18 kg |
软件 | 平均粒径解析（累积法解析） |
粒径分布解析 | |
（Marquardt法/Contin法/NNLS/Unimodal法） | |
粒度分布重叠 | |
逆相关数 残差Plot | |
粒径监测 | |
粒径表示范围 （0.1 ～ 106 nm） | |
分子计算机能 | |
21 CFR Part11对应*4 | |
选配 | 微量样品池（20μLから対応）、荧光滤光片 |
*1 本设备划分在激光安全基准（JIS C 6802）的等级内。
*2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％、牛黄胆酸：～40%
*3 标准glass cell的批量测量的情况。
一次性cell或连续测量时， 15 ～ 40℃ （不对应温度梯度）
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