| 型号： | CNT-OTAR-S |
| 产地： | 福建 |
| 品牌： | CHIPNOVA |
| 评分： |
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产品简介
在普通三维重构样品杆的基础上升级而来，搭配两种可替换针尖:单轴 和C型针尖，可适用更多种类样品。
我们的优势
创新设计
1.高强度钛合金特殊结构设计，高精度加工，经久耐用。
2.C型针尖创新结构设计，保证铜网稳定性，不会对EDS分析造成干扰。
3.可替换式针尖，方便同一样品在TEM、FIB、AP等多平台转移，获取更全面信息。
高质量成像
1.单轴针尖可360°高精度旋转，获取更多二维成像信息，
避免锲形信息丢失。
2.C型针尖为3mmHalf-Grid设计，α角最大旋转角度为 ±90°，避免样品阴影，提供高质量层析成像数据。
技术参数
| 类别 | 项目 | 参数 |
| 基本参数 | 杆体材质 | 高强度钛合金 |
| 样品类型 | 棒状、圆锥形、3mm Half-Grid | |
| 漂移率 | ＜0.5 nm/min（稳定状态） | |
| 分辨率 | 电镜极限分辨率 | |
| 兼容电镜 | Thermo Fisher/FEI，JEOL，Hitachi | |
| (HR)TEM/STEM | 支持 | |
| (HR)EDS/EELS/SAED | 支持 |
应用案例
电子断层扫描对纳米尺度地质材料的三维分析
参考文献来源：Three-dimensional Analyses of Geological Materials on Nanoscale by Electron Tomography[J]. Atomic Spectroscopy, 2022.
最大倾斜角度为±54°、间隔为6°的一系列倾斜图像重建结果。
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