透射电镜双倾探针电学原位系统
透射电镜双倾探针电学原位系统
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透射电镜双倾探针电学原位系统

参考价:面议
型号: CNT-GB-D
产地: 福建
品牌: CHIPNOVA
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核心参数
厦门超新芯科技有限公司
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产品详情

TEM力学-双倾探针电学.png

产品简介

通过纳米探针对样品施加电场控制,结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式,实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随电场变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。


我们的优势

纳米探针操纵系统

1.高精度压电陶瓷驱动,纳米级别精度数字化精确定位。

2.可对单个纳米结构进行操纵和电学测量。


优异的电学性能

特殊设计保证电学测量的低噪音和精确性,电流测量精度可达皮安级。


智能化软件

1.人机分离,软件远程调节电学条件,程序自动化控制倾转角度。

2.全程自动记录实验细节数据,便于总结与回顾。



技术参数

类别项目参数
基本参数杆体材质高强度钛合金
控制方式高精度压电陶瓷
倾转角α≥±20°,β≥±20°(实际范围取决于透射电镜和极靴型号)
适用电镜Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi
适用极靴ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP
(HR)TEM/STEM支持
(HR)EDS/EELS/SAED支持











 


厦门超新芯科技有限公司为您提供CHIPNOVA透射电镜双倾探针电学原位系统CNT-GB-D,CHIPNOVACNT-GB-D产地为福建,属于国产原位样品杆/台,除了透射电镜双倾探针电学原位系统的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供更多原位样品杆/台,超新芯科技客服电话400-860-5168转4548,售前、售后均可联系。

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