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溅射原子化激光共振电离飞行时间质谱仪（Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer SIRIS-TOFMS)
SIRIS分析步骤：
1、通过能量强大的离子束，解吸附和雾化（分离成原子）样品的一小部分（溅射）。
2、在溅射过程中抑制离子形成。
3、溅射中性粒子的选择性激光电离（共振电离光谱）。
4、离子的飞行时间质谱分析。
技术参数：
溅射原子化激光共振电离飞行时间质谱仪（Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer SIRIS-TOFMS)技术特点：
1、激光系统包括Nd:YAG激光泵的二波长可调激光器。
2、标准系统包括可选择微焦点离子枪（50 m光斑尺寸）或液态金属离子枪（100nm光斑尺寸）；两种离子枪都配作为一个选项。 x, y, z, 四维样品操纵器，X、Y方向上的精度为亚微米级。
3、16方位轮播样品台。
4、静电分析仪，从根本上消除了由于非选择性表面电离的影响。
5、组合微通道板-闪烁器-光电倍增管，可获得高增益检测与极好的脉冲高度分布。
6、一周的仪器操作培训和SIRIS数据分析培训。
主要特点：
溅射原子化激光共振电离飞行时间质谱仪（Sputter-Initiated Resonance Ionization Spectroscopy Time of Flight Mass Spectrometer SIRIS-TOFMS)
是一种新型微区定量高灵敏分析仪器。它集离子溅射、共振电离与飞行时间质港等技术于一体，由于具有高电离效率、高灵敏性、高选择性、适用范围广以及基体效应小等特点，可以实现复杂样品微区微量成份的定量分析。
广泛应用于核物理、地质、矿产、钢铁、半导体材料、环境等许多领域。
我公司有超过25年的SIRIS研究和仪器化的经验，提供完整的SIRIS仪器，目前已经向全世界各个国家的科研机构提供了几十台SIRIS-TOFMS仪器。
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