探针材料

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探针材料相关的资讯

  • 我国研究者成功合成荧光探针新材料 可用于金属定量检测
    记者日前从广东医科大学药学院获悉,该学院通过国际合作,成功合成了2个罕见的纳米孔稀土金属—有机骨架材料,该材料可作为荧光探针高效检测铁离子等金属离子浓度,可为皮肤病和贫血症等疾病中Fe3+的定量分析以及环境中Fe3+的监测提供简单、高效的检测方法。  “传统荧光探针存在荧光信号不强、选择性差、灵敏度低、回收困难等问题,而金属—有机骨架荧光探针在用于金属离子检测方面,具有方法简单、灵敏度高、选择性好及响应速度快等优点。”刘建强说。  刘建强说,该研究以分子工程学为依据,通过简单的溶剂热方法合成了2个罕见的纳米孔稀土金属—有机骨架材料,该新型材料对不同浓度的离子进行探测后,对于铁离子和重铬酸根离子表现出了特殊的敏感性,荧光强度出现了快速的降低,并对二氧化碳有选择性吸附作用。  在探索合成纳米孔稀土金属—有机骨架材料规律的基础上,该团队将该材料应用于荧光探针领域,对金属离子可进行高效检测。“检测极限值越低代表灵敏度越高,检测效果也越好。以铁离子的检测而言,纳米孔稀土金属—有机骨架材料做成的荧光探针检测限度,远优于传统材料。”刘建强说。  “纳米孔稀土金属—有机骨架材料作为探针材料,表现出对铁离子良好的选择性和灵敏性,在荧光探针和生物标记等领域具有广泛的应用前景和发展空间。”广东医科大学药学院院长李宝红说。  此研究由该学院博士刘建强和西北大学博士侯磊、澳大利亚莫纳什大学博士斯图尔特巴顿等完成。相关科研成果近期发表在国际期刊《ChemPlusChem》上。
  • 宁波材料所SERS探针肿瘤体外诊断研究进展
    恶性肿瘤严重威胁人类生命健康,“早诊、早治”是根治肿瘤的最佳途径。目前临床肿瘤诊断方法主要依赖手术和穿刺活检,是侵入性检查手段,给患者带来了生理痛苦和心理负担。因此开发一种非入侵式、高检测灵敏度的谱学/图像分析引导技术应用于实体肿瘤的前期诊断和术后评估是实现肿瘤精准诊断的关键,也已成为材料科学和生物学科等多学科交叉领域共同关注的重要科学问题。纳米材料表面增强拉曼散射(SERS)光谱/图像具有高检测灵敏度、选择性增强特性、稳定性高、可提供组分指纹信息等检测优势,可高效应用于肿瘤的液体活检,实现外周血样中肿瘤细胞的精准诊断。中国科学院宁波材料技术与工程研究所纳米生物材料团队在SERS生物探针材料设计及应用研究方面取得了系列进展。纳米生物材料团队开发了基于表面增强拉曼散射(SERS)光谱和磁共振造影(MRI)增强的Fe3O4双模态成像生物探针,研究发现超小粒径Fe3O4纳米粒子具有显著的SERS活性(5×10-9 M检测极限)。Fe3O4纳米粒子具有高效的光诱导电荷转移(PICT)效应归因于Fe元素的多个价态能级促进电子跃迁。密度泛函理论计算进一步揭示了超小粒径Fe3O4纳米粒子的窄带隙和高电子态密度能够明显提高SERS-目标分子体系中的振动耦合共振效应。通过构建具有高灵敏度和肿瘤靶向特异性的Fe3O4生物探针,可以实现不同亚型三阴乳腺癌肿瘤细胞的体外SERS信号/成像区分鉴定。同时,Fe3O4的生物探针也展现出对荷瘤小鼠体内肿瘤的主动靶向MRI造影特性,实现了半导体生物探针的SERS-MRI双模态成像分别用于体外和体内肿瘤成像,不仅在肿瘤早期诊断中具有优势,而且在影像引导肿瘤治疗方面具有巨大潜力(图1)。相关成果以“Multiple Valence States of Fe Boosting SERS Activity of Fe3O4 Nanoparticles and Enabling Effective SERS-MRI Bimodal Cancer Imaging”为题发表在国家自然科学基金委主办的综合性英文学术期刊Fundamental Research上。进一步,为了高效提取外周血样中的肿瘤细胞,提高SERS纳米生物探针对肿瘤细胞的靶向检测能力。纳米生物材料团队联合宁波诺丁汉大学任勇副教授团队,合作开发了微流控富集分离与拉曼光谱快速检测肿瘤细胞技术,开发出一种新型的基于微筛分离手段和肿瘤靶向特性的黑色氧化钛(B-TiO2)SERS生物探针用于循环肿瘤细胞(CTC)原位检测。该研究先利用微筛芯片对人体血液中目标细胞进行纯化分离,以排除大部分血液细胞的干扰,再利用叶酸修饰的SERS生物探针识别芯片上捕获的肿瘤细胞,从而实现外周血样中单个肿瘤细胞筛选和原位检测,实验结果具有高检测灵敏度、特异性和准确性。更重要的是,该研究工作设计的微流控-SERS生物探针能够有效应用于临床肿瘤样本的有效检测,有望为循环肿瘤细胞的检测提供新的策略(图2)。相关成果以“TiO2-based Surface-Enhanced Raman Scattering bio-probe for efficient circulating tumor cell detection on microfilter“为题发表在Biosensors and Bioelectronics,2022,210:114305(https://doi.org/10.1016/j.bios.2022.114305)。此外,纳米生物材料团队开发了生物相容性较好、具有选择性增强特性、光谱稳定性强的半导体氧化银SERS纳米生物探针,应用于外周血样的循环肿瘤细胞检测。该研究先利用淋巴细胞分离液对外周血样中的血细胞进行分离,排除红细胞和白细胞对SERS检测的干扰,再通过叶酸修饰的SERS生物探针靶向识别血样中的肿瘤细胞,从而实现外周血样中单个循环肿瘤细胞的原位精准检测。肺癌患者外周血样的有效准确检测也证明了Ag2O基SERS生物探针具有优异的临床应用前景(图3)。相关成果以”Octahedral silver oxide nanoparticles enabling remarkable SERS activity for detecting circulating tumor cells”为题发表在Science China life science,2022,65: 561-571(https://doi.org/10.1007/s11427-020-1931-9)。图3 Ag2O基SERS生物探针用于肿瘤细胞检测为了进一步研发高SERS活性的半导体纳米材料,纳米生物材料团队联合北京航空航天大学郭林教授团队,通过制备多孔ZnO纳米片,在材料表面引入大量缺陷态,提高了ZnO材料的SERS增强因子,并发现一种低温增强半导体SERS活性的方法,低温可以有效削弱晶格的热振动,从而减少声子相关的非辐射跃迁复合,能够有效促进表面缺陷态能级相关的电子跃迁,展现出了低温SERS生物传感的应用潜力(图4)。相关成果以”Low temperature-boosted high efficiency photo-induced charge transfer for remarkable SERS activity of ZnO nanosheets”为题发表在Chemical Science,2020, 11, 9414(https://doi.org/10.1039/d0sc02712j)。图4 半导体材料低温SERS效应基于上述开发的系列SERS纳米生物探针,通过与浙江省肿瘤医院邵国良主任医师团队合作,SERS探针能够有效用于临床病人外周血样中的乳腺癌、肝癌和肺癌循环肿瘤细胞的准确检测,已完成180例不同癌种临床样本有效检测,检测灵敏度可以达到单细胞水平,检测准确度可达90%以上。进一步的研究发现,SERS生物探针可有效区分不同亚型的乳腺癌肿瘤细胞,实现乳腺癌分子分型鉴定检测(专利申请号:202110745849.1、202210148829.0、202210425260.8)。
  • 广东医科大学合成新型探针材料可快速检测贫血症
    日前从广东医科大学药学院获悉,该学院通过国际合作,成功合成了2个罕见的纳米孔稀土金属—有机骨架材料,该材料可作为荧光探针高效检测铁离子等金属离子浓度,可为皮肤病和贫血症等疾病中Fe3+的定量分析以及环境中Fe3+的监测提供简单、高效的检测方法。  “传统荧光探针存在荧光信号不强、选择性差、灵敏度低、回收困难等问题,而金属—有机骨架荧光探针在用于金属离子检测方面,具有方法简单、灵敏度高、选择性好及响应速度快等优点。”刘建强说。  刘建强说,该研究以分子工程学为依据,通过简单的溶剂热方法合成了2个罕见的纳米孔稀土金属—有机骨架材料,该新型材料对不同浓度的离子进行探测后,对于铁离子和重铬酸根离子表现出了特殊的敏感性,荧光强度出现了快速的降低,并对二氧化碳有选择性吸附作用。  在探索合成纳米孔稀土金属—有机骨架材料规律的基础上,该团队将该材料应用于荧光探针领域,对金属离子可进行高效检测。“检测极限值越低代表灵敏度越高,检测效果也越好。以铁离子的检测而言,纳米孔稀土金属—有机骨架材料做成的荧光探针检测限度,远优于传统材料。”刘建强说。  “纳米孔稀土金属—有机骨架材料作为探针材料,表现出对铁离子良好的选择性和灵敏性,在荧光探针和生物标记等领域具有广泛的应用前景和发展空间。”广东医科大学药学院院长李宝红说。  此研究由该学院博士刘建强和西北大学博士侯磊、澳大利亚莫纳什大学博士斯图尔特巴顿等完成。相关科研成果近期发表在国际期刊《ChemPlusChem》上。

探针材料相关的方案

探针材料相关的论坛

  • 【分享】美研发出测量纳米级材料相互作用的探针

    美国加州大学洛杉矶分校17日表示,该校纳米系统科学主任保罗·维斯领导的研究小组开发出了研究纳米级材料相互作用的工具——双扫描隧道显微和微波频率探针,可用于测量单个分子和接触基片表面的相互作用。   过去50年中,电子工业界努力遵循着摩尔定律:每两年集成电路上晶体管的尺寸将缩小大约50%。随着电子产品尺寸的不断缩小,目前已到了需要制作纳米级晶体管才能继续保持摩尔定律正确性的地步。  由于纳米级材料和大尺寸材料所展现的特性存在差异,因此人们需要开发新的技术来探索和认识纳米级材料的新特征。然而,研究人员在研发纳米级电子元器件方面遇到的障碍是,人们没有相应的能力去观察如此小尺寸材料的特性。

  • 【分享】AFM探针分类及各探针优缺点

    AFM探针分类及各探针优缺点   AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。   利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜,如AFM(范德法力),静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等, 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。   原子力显微镜的探针主要有以下几种:   (1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:最常用的产品,分辨率高,使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损,分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。   (2)、 导电探针:通过对普通探针镀10-50纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属,如Cr,Ti,Pt和Ir等)得到。导电探针应用于EFM,KFM,SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差,使用时导电镀层容易脱落,导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖,金刚石镀层针尖,全金刚石针尖,全金属丝针尖,这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。   (3)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备,分辨率比普通探针差,使用时导电镀层容易脱落。   (4)、大长径比探针:大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品,分辨率很高,使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm;长径比5:1;针尖半径 10 nm。   (5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜,另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性,减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。   还有生物探针(分子功能化),力调制探针,压痕仪探针

  • 电子探针测深度

    这个材料上面的孔,想测下深度,谁有电子探针,想合作一下。[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/07/202307010917592330_9771_1601454_3.png[/img]

探针材料相关的资料

探针材料相关的仪器

  • 该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件,其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5",测量装置测量装置的典型电路叉图1,范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层,方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量,但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件,测量两内操针之间的电位差,引人与试样几何形软有关的修正因子,计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜,高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。
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  • 概述:采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,实验室;是检验和分析导体材料和半导体材料质量的工具。可配置不同测量装置测试不同类型材料之电阻率。液晶显示,温度补偿功能,自动量程,自动测量电阻,电阻率,电导率数据。恒流源输出;选配:PC软件过程数据处理和标准电阻校准仪器,薄膜按键操作简单,中文或英文两种语言界面选择,电位差计和电流计或数字电压表,量程为1mV¯ 100mV,分辨率为0.1%,直流输入阻抗不小250μm的半球形或半径为50 μm~125 μm的平的圆截面。探针(带有弹簧及外引线)之间或探针系统其他部分之间的绝缘电照至少为10°Ω.探针排列和间距,四探针应以等距离直线排列,探针阀距及针突状况应符合GB/T 552 中的规定。R=1(R +R, )…………………………(3)R2=与(R +R,)计算试样平均直径D与平均操针间距S之比,由表3中查出修正因子F,也可以见GB/T11073中规定的几何修正因子。 9.4计算几何修正因子F,见式(4)。对于薄层厚度小于3μm的试样,选用针尖半径为100μm250μm的半球形探针或针尖率径为50μm~125 pm平头探针,针尖与试样间压力为0.3 N¯ 0.8Ni对于薄层厚度不小于3μ的试样,选用针尖半径为35μm100 pm 半球形操针,针尖与试样间压力不大于 0.3 N.Rr=V R,/V=V/I,…… … 测量装置测量装置的典型电路叉图1,范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层,方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量,但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件,测量两内操针之间的电位差,引人与试样几何形软有关的修正因子,计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜,高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.
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  • 测量装置测量装置的典型电路叉图1,范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层,方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量,但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件,测量两内操针之间的电位差,引人与试样几何形软有关的修正因子,计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜,高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.R,=V,R,/V_=V,/I,-双刀双撑电位选择开关。.定。欧娇表,能指示阻值高达10°日的漏电阻,温度针0℃-40℃,小刻度为0.1℃。光照、高频、需动、强电磁场及温醒度等测试环境会影响测试结果,甲醇、99.5%,干燥氮气。测量仪器探针系统操针为具有45"~150°角的圆罐形破化鸭振针,针实半径分别为35μm~100μm.100 μm…… … ………(5)电压表输入阻抗会引入测试误差,硅片几何形状,表面粘污等会影响测试结果,R(TD-R_xF式中:计算每一测量位置的平均电阻R.,见式(3).试剂优级纯,纯水,25℃时电阻率大于2MN.cm,s=号(二[R,(TD-瓦(7D羽yt ..计算每一测量位置在所测温度时的薄层电阻(可根据薄层电阻计算出对应的电阻率并修正到23℃,具体见表4)见式(5).用干净涂题颗子或吸笔将试样置于样品台上,试样放置的时间应足够长,到达热平衡时,试样温度为23 ℃±1℃.接通电流,令其任一方向为正向,调节电流大小见表1测量范围电阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm方 阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□电 阻:1×10-5~2×105 Ω ,分辨率:1×10-6~1×102 Ω 材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)直 径:A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm, 方测试台直接测试方式180mm×180mm, 长(高)度:测试台直接测试方式 H≤100mm, 测量方位: 轴向、径向均可
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探针材料相关的耗材

  • AFM探针/原子力显微镜探针/磁性探针(MESP) AFM探针
    NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020探针的指标主要分三个部分,分别对应了基片,微悬臂梁,和针尖三个部分。1. 基片,就是基片的长,宽,高,各种探针的基片尺寸是基本一致的。 2. 悬臂梁,分为矩形梁和三角形悬臂梁,他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数,一般来说,接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖,针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有,曲率半径(Tip Radius),探针高度(Tip Height),对应于四面体的指标,前角(Front Angel),后角(Back Angel),侧角(Side Angel),还有一个是Tip Set Back,对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质:1. 轻敲探针:一般是单晶硅,型号如RTESP; 2. 接触模式探针:材质是SiN,而新型号的SNL接触探针,悬臂梁是SiN,而针尖则Si(曲率半径2nm左右),这种探针可以提供接触模式下的分辨率图;3. 功能探针:如磁力探针(MESP),导电探针,则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr,SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍: 常用探针型号介绍1. 轻敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP 2. 接触模式,SNL,NP,3. 智能扫描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜,MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜,导电AFM,等电学测量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针,大长径比探针。
  • 探针定位器
    探针定位器专业为探针台操作使用而设计的高精度探针台定位器或探针微操作器,它采用高精度铝合金材料制造,具有超高精度和超小公差。探针定位器特点采用表面采用黑色氧化铝工艺处理,具有全寿命润滑能力,免于维护。采用高级不锈钢螺钉,提供超调整分辨率和良好的重复精度。探针定位器参数高度:2英寸底部:2英寸 x 2英寸行程范围XYZ: 0.5英寸分辨率:0.02英寸/轮回
  • 布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air AFM探针
    布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air,是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针,仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含:Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法,对图像质量进行持续的监测,并能自动地对参数进行适当的调整。因此:- 无论用户的专业技术水平如何,图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱,调到超低力,从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除,定位调整,获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针,所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格: 延展阅读:关于布鲁克:布鲁克公司以先进的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势:*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能 在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式:主要分为:扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构:悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius:一般为10nm到几十nm。制作工艺:半导体工艺制作 指标:探针的指标主要分三个部分,分别对应了基片,微悬臂梁,和针尖三个部分。1. 基片,就是基片的长,宽,高,各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁,分为矩形梁和三角形悬臂梁,他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数,一般来说,接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖,针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有,曲率半径(Tip Radius),探针高度(Tip Height),对应于四面体的指标,前角(Front Angel),后角(Back Angel),侧角(Side Angel),还有一个是Tip Set Back,对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质:1. 轻敲探针:一般是单晶硅,型号如RTESP;2. 接触模式探针:材质是SiN,而新型号的SNL接触探针,悬臂梁是SiN,而针尖则Si(曲率半径2nm左右),这种探针可以提供接触模式下的分辨率图;3. 功能探针:如磁力探针(MESP),导电探针,则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr,SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍: 常用探针型号介绍1. 轻敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP2. 接触模式,SNL,NP,3. 智能扫描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜,MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜,导电AFM,等电学测量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针,大长径比探针。

探针材料相关的试剂

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