镭射产品

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镭射产品相关的资讯

  • FDA建议修订镭射产品的性能标准
    贸发网消息,美国食品药品监督管理局(FDA)目前正就修订镭射产品(laser products)性能标准向利益相关方征求意见,截止日期为9月23日,旨在(一)实现目前的标准与已在镭射产品和医疗镭射产品中使用的国际标准间的紧密协调 (二)减少受影响制造商的经济负担 (三)提高FDA镭射产品法规的有效性 (四)更好保护和促进公众健康。   FDA拟议根据美国联邦法规(U.S. Code of Federal Regulations)第21篇第一章J小节修订适用于镭射产品的法规,原因是目前的镭射产品性能标准最近一次更新是在1985年,其基于的光生物学已过时,并不能反应当前行业技术发展的现状。例如,镭射目前常被用于半导体和通信行业,而在上次更新时他们还尚未被发明。FDA拟议根据IEC 60825–1 (第2d版-2007),以及IEC 60601–2–22:《医疗电气设备-第2-22部分:外科、美容、治疗和诊断镭射设备基本安全和必要性能的特殊要求》(第3.0版本。2007-05)修订该标准,旨在使其与当前的科学相一致,实现与国际电工委员会(IEC)标准60825–1,《镭射产品安全-第一部分:设备分类和要求》,第2d版,2007-03的紧密协调。   目前,在美国国内或国外生产销售镭射产品的企业必须同时符合IEC和FDA标准。协调这类标准意味着遵守两项不同标准的企业基本只需要符合一项标准,除非产品的标准不同(如伴随辐射限制)。此外,FDA指出,提案将更好地保护公众健康,因为遵守规则将减少与镭射技术有关的已确认的风险。   拟议规则将会直接影响制造镭射产品的企业。一般来说,所有包含镭射或镭射系统的产品都将遵守当前的性能标准。镭射产品同时也是医疗设备,还受到FDA医疗设备法规的规管。FDA拟议从联邦公报公布之日起的两年内实施最终规则。
  • 日本对于电热水壶和便携式镭射产品的新要求
    日前,日本S-mark认证机构经过会议讨论后,对于电热水壶将可能增加额外的要求。   2012年10月22日,日本广播公司播放一件有关电热水壶引起的意外,造成婴儿和儿童被热水壶溢出的滚烫热水烧伤的事故。此事件被记载在日本国民生活中心(National Consumer Affairs Center of Japan,NCAC)的网站上(http://www.kokusen.go.jp/test/data/s_test/n-20100609_1.html)。在此报导之前,日本NHK电视台采访日本电机工业协会(The Japan Electrical Manufacturers’ Association,JEMA)并询问制造商如何承担意外事故。JEMA对此回应,他们将制定一份标准,其中包含了日本S-mark的要求。根据JEMA的请求,日本电器产品认证协会(SCEA)将开始针对电热水壶制定额外的要求。其发布和实施日期尚未讨论。   2012年11月20日,日本针对便携式激光产品,对《消费生活用制品安全法》进行了修订。此次修订的内容包含:镭射产品的标准由JIS C 6802(2005)版本变更为JIS C 6802(2011)版。新的技术标准对于便携式镭射产品总长度8公分的部分有较松的要求。法案修订日期与新技术标准实施日期同为2012年11月20日。有关该技术标准的详细信息请参见经济产业省有关镭射产品的省令(PDF)。
  • 朱棣文:1997年诺贝尔物理学奖获得者
    朱棣文简介   出生日期:民国卅七年二月二八日   籍贯:江苏省太仓县   专习学科:物理应用物理   现职:美国史丹福大学物理学和应用物理教授   教育背景:   1970年毕业于罗彻斯特大学,获数学学士和物理学学士。   1976年获加州大学伯克利分校物理学博士。   工作经历:   1976-1978在加州大学伯克利分校做博士后研究。   1978-1983任电磁现象研究贝尔实验室研究人员。   1983-1987美国电话、电报公司贝尔实验室量子电子学研究部主任。   1987-至今斯坦福大学物理和应用物理教授。   哈佛大学讲师(1987-1988)   实验天体物理联合研究所特邀访问学者(1989)   法国学院访问教授(1990)   史丹福大学教授(1990-至今)   史丹福大学物理系主任(1990-1993)。   研究经历和意向:   原子物理中的宇称不守恒性。   固体中的能量转换和激发动力学。   毫微秒光谱学。   正负电子和对介子-电子对光谱学。   原子的雷射致冷和俘获。   单分子聚合体和生物物理。   显微技术。   奖学金、荣誉奖以及学术上的荣誉成员   罗彻斯特大学斯托达数学奖(1968)   罗彻斯特大学斯托达物理奖(1970)   伍德罗.威尔逊奖学金(1970)   国家科学基金会博士预备生奖学金(1970-74)   国家科学基金会博士后奖学金(1977-78)   美国物理学会理事(1978)   美国物理学会在雷射光谱领域的布洛依达奖(1987)   美国光学学会理事(1990)   美国物理学会和美国物理教师学会的理直脱迈耶纪念奖讲演(1990)   美国艺术和科学科学院院士(1992)   费塞尔国王国际科学奖得主之一(1993)   美国国家科学院院士(1993)   美国物理学会在雷射科学领域的亚瑟.萧洛奖(1994)   美国光学学会的威廉.梅格斯奖(1994)   部份学术机构职务   美国物理学会雷射科学专题组主席(1989-90)   美国物理学会雷射科学专题组副主席(1989-90)   ″光学通讯″杂志副主编   美国光学学会杂志B专刊″原子的雷射致冷和俘获″的主编之一   量子电子学会议雷射科学节目委员会主席之一(1990),执行主席之一(1992)   国家科学基金会物理谘询委员会成员(1990-1993)   原子、分子和光学物理国家研究谘询委员会成员(1992-至今)   基础和应用科学家国际联合会量子电子学领域代表(1993-至今)   国家科学院自由电子雷射器评议会成员(1993-94)   美国-日本量子电子学讨论会主席之一(1993-94)   部份史丹福大学职务   人文和科学分院提名和晋升委员会(1989-90)   预算和规划决策委员会(1990-1992)   史丹福大学校长遴选委员会(1991-92)   间接成本核算委员会(1991-92)   人文和科学分院科学院顾问(1993-至今)   史丹福大学学科委员会评议员(1993-至今)   院级妇女招聘和留置委员会(1992-93)

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  • 分光色度仪能否测量镭射纸张的颜色

    我公司是印刷企业,因生产需要需用镭射喷铝纸,客户对产品的颜色要求比较严格,所以公司对进料的纸张的颜色控制也有要求,要对镭射纸进行颜色测量,不知道分光色度仪能否测量?

  • 【求助】想请教一下3D雷射扫描量测显微镜与SEM差很多吗?

    3D雷射扫描量测显微镜特色:透过雷射光断面扫描得到清晰的立体图像是集合光学显微镜及雷射扫描于一身的表面精密检查3D量测设备,采用最先进的universal无限远光学系统,并针对雷射光波长408nm作对应的光学收差补偿,倍率范围广可任意选择,最高可达到14,400倍的高倍观察,并可依需求采用明暗视野、微分干涉、偏光等各种镜检法;配合影像处理及精密量测系统,除了同一般显微镜可实时观察外,也同时具备了电子扫描显微镜3D影像清晰、层次分明之特性 (平面解析力达0.12μm,Z方向解析力达0.01μm) ,此一全方位精密量测观察设备,可将扫描影像及光学影像作结合,得到真实的色彩表现扫描影像。想请教一下各位大大,上面所说的雷射显微镜跟SEM差异在哪?以倍率来说雷射的没比SEM高,可是价格却比较贵?

  • 使用动态雷射粒径分析仪分析碳煙的溶劑

    请问使用动态雷射粒径分析仪进行不同粒径的碳黑(carbon black)侦测时,要以什么当作溶剂较好,目前以乙醇当溶剂的试验结果,碳黑粒子无法分散好,测到的好像都是凝结体(aggregate)的粒径,并非真实碳黑粒子的粒径。

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镭射产品相关的仪器

  • Reliable and easy in use DPSS Nd:YAG laser 特性和优点:★ 高稳定输出★ 高刚性机械结构设计★ 可调整式雷射输出参数DF152 Diode pumped Nd:YAG laser 特性和优点:★ 可靠且方便操作的雷射系统★ 高稳定性功率输出★ 良好的光晶体封装与热稳定性★ 可调整式雷射输出参数
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  • 盲孔测量显微镜别名:激光盲孔检测仪、镭射盲孔显微镜?产品信息SN-MF300盲孔测量显微镜是一款集光机电于一体的高精密检测仪器,主要检测镭射盲孔的外观品质、孔的圆度、孔的深度测量与孔内良率,是镭射现场品检利器,可随时管控镭射机的工作状态。仪器采用先进的光学测量系统,保证测量的准确性与图像成像的高还原性。?产品特点采用全新光学设计的无限远校正光学系统,光效率高,成像质量还原性更高,图像输出稳定。三目成像结构,目视检测,直观景深更强,视野明亮宽阔。电子成像配合显微成像系统,倍率成像更大,测量功能更强大,可进行多样化与多维度测量,测量结果可视化高,测量结果可存储。紧凑稳定的机台,可在多种环境中保持仪器的测量精度与稳定性。双层XY测量工作台面,可根据需求配不同大小的工作台,应对于大面积产品的测量。XYZ三轴数显测量,使现场快速测量更快捷。 ?产品参数SN-MF300镭射盲孔检测仪名称SN-MF304SN-MF304NSN-MF304ND测量范围(mm)X400400400Y300300300Z150150150平台模式手动自动自动自动测孔无无是工作台面(mm)载物台600×500600×500600×500玻璃台450×350450×350450×350承重20kg20kg20kg测量精度测量分辨率0.001mmX/Y轴(3+L/200)umZ轴(5+L/200)um重复性0.0002mm观察与测量系统光学系统无限远校正光学系统观察光学头三目观察光学头CCD接口0.5X/1X目镜PL10X/22物镜5X/0.13(明场无限远长工作距),WD:10.8mm10X/0.30(明场无限远长工作距),WD:10.0mm20X/4.0(明场无限远长工作距),WD:4.0mm50X/0.55(明场无限远长工作距),WD:7.8mm调焦系统手动粗微调同轴/最小调节2um照明系统反射柯勒照明系统,24V/150W光纤冷光源透射5W/LED照明偏光系统反射系统起偏镜、检偏镜电源AC90-240V/50HZ仪器重量350kg配件CCDUSB相机/HDMI工业测量相机测量软件多功能测量软件,点、线、圆、角度、真圆度、3D孔深等几何测量,图像输出校正片0.01刻度尺电脑品牌电脑,2G内存,500G硬盘,19寸显示器
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  • 特性和优点:★ 连续雷射等离子体放电光原★ 全光谱亮度极高紫外-可见-近红外(170nm-2100nm)★ 无需多个灯-替代 氘 /钨/氙弧灯★ 小体积与高功率稳定性★ 无电极运行,使用寿命长-降低使用成本
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  • 漫反射备选产品 | L1201654
    订货信息:漫反射备选产品珀金埃尔默漫反射选项产品描述部件编号Spectrum One/100/400/65Spectrum TwoFrontier漫反射大容量样品杯L1201654√√√漫反射微量样品杯L1201655√√√多用途漫反射样品杯夹具L1201865√√√漫反射用金属镀层式金刚砂研磨垫 (100 件装 )L1275106√√√漫反射用无涂层式金刚砂研磨杵 (100 件装 )L1271021√√√漫反射用金属镀层式金刚石研磨杵 (100 件装 )L1275105√√√漫反射用无涂层式金刚石研磨杵 (100 件装 )L1275102√√√
  • 珀金埃尔默的漫反射备选产品 L1201654
    珀金埃尔默的漫反射备选产品订货信息:产品描述部件编号漫反射大容量样品杯L1201654漫反射微量样品杯L1201655多用途漫反射样品杯夹具L1201865漫反射用金属镀层式金刚砂研磨垫(100件装)L1275106漫反射用无涂层式金刚砂研磨杵(100件装)L1271021漫反射用金属镀层式金刚石研磨杵(100件装)L1275105漫反射用无涂层式金刚石研磨杵(100件装)L1275102
  • 哑铃试样
    材质:木模底镭射裁刀,可裁切纸张,铜铝箔,橡胶手套,布等 锰钢,可裁切橡胶,塑料等

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