光电器件

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光电器件相关的资讯

  • 北京大学碳纳米管光电器件研究取得新进展
    北京大学信息科学技术学院博士研究生杨雷静与王胜副研究员作为共同第一作者所撰写的论文Efficient photovoltage multiplication in carbon nanotubes,于2011年11月1日在《自然》子刊《自然?光子学》(Nature Photonics, 2011, 5, PP.672-676)上发表。该论文报道了碳纳米管光电器件研究的重要突破,也是电子学系彭练矛教授研究组在碳纳米管器件研究领域所取得的最新进展。   在地球资源日益匮乏的今天,太阳能作为重要的替代能源具有很多不可超越的优势。基于纳米尺度新材料的太阳能光伏器件研究是当前国际太阳能光伏领域研究的热点。碳纳米管是直接带隙材料,一直被认为可能在构建下一代太阳能电池中发挥重要影响。并且,半导体的单壁碳管具有独特的能带结构,以及很好的紫外到近红外的宽谱光吸收特性,可以充分地吸收利用太阳光。先前的研究已证明,碳管材料构建的光伏器件具有光生载流子倍增效应,利用这种效应构建的太阳能电池可能超越理论上预计的单个太阳能电池效率极限。但是大多数典型半导体碳管器件的光电压一般小于0.2V,对于实际应用而言小得难以满足需要。如何非常高效地级联碳管太阳能电池以获得高的光电压输出,就成为碳管光伏器件领域富有挑战性的工作之一。   碳管级联太阳能电池模块示意图   彭练矛研究组提出采用虚电极对接触方法,无需传统的掺杂工艺即可有效地使器件的光电压产生倍增,具体说来,在一根10μm长的碳管上级联5个电池单元,就可以获得大于1V的光电压。这项工作是在彭练矛研究组一系列前期研究的基础上实现的。2008年,研究组提出采用非对称接触电极的方法实现无需掺杂制备碳纳米管二极管,研究结果发表在《先进材料》(Advanced Materials, 2008, 20, 3258)上。 在此基础上,采用近乎同样但经过改进的工艺,又于今年实现了第一个真正意义上的碳管红外发光二极管(LED),其研究论文发表在《纳米快讯》(Nano Letters, 2011, 11, 23)上。   这项研究得到了国家重大科学研究计划和国家自然科学基金委员会的资助。
  • 牛智川:锑化物外延材料与红外光电器件的开拓者
    在科研的路途中,固然山高水深,寒暑风雨,但只要初心如磐,奋楫笃行,终能让梦想照进现实。中国科学院半导体所研究员,博士生导师,中国科学院大学材料科学与光电技术学院量子光电子学首席教授牛智川,就是在这样的风雨兼程中,实现了半导体材料的突破。锑化物材料的突破半导体是一种材料,是现代科技不可或缺的技术。半导体技术发展一代材料体系、形成一代器件技术。本世纪初,锑化物半导体材料,即GaSb基晶格匹配异质结、量子阱、超晶格体系获得业界高度重视,其破隙型窄带隙能带构型和材料组分适于能带工程设计调控和先进的III-V族半导体工艺,为突破传统红外半导体长期瓶颈提供全新路径。近年来GaSb单晶、衬底与外延材料技术的突破,极大地促进了中波红外激光器、中长波红外探测器的技术跨越,其应用价值得到确认,2009年起西方实施锑化物半导体出口管控。“只有将科技掌握在自己的手中,才能真正的安心,放心。”近些年来,中国的科研工作者经历了太多这样的波折,所以,面对封锁,牛智川教授没有抱怨,更没有放弃,他知道,这是中国制造必然要走的一步。锑化物材料属于多元素化合物体系,相比于其他材料,锑化物量子阱超晶格等低维材料的能带结构最为复杂,器件台面、腔面表面氧化性质悬殊,实现高光电效率激光发光和探测器的能带设计优化、外延材料质量调控、器件高稳定性的工艺结构优化方法、高可靠性大功率输出热场等综合表征与优化等,都是该器件技术的核心科学难题。作为长期从事半导体低维材料物理与量子光电子器件技术研究的探索者,牛智川教授率先在我国开拓锑化物半导体外延材料与红外光电器件技术方向。他带领团队针对锑化物多元复杂材料能带设计及外延生长技术的挑战难题,聚焦中波红外量子阱激光器波长拓展效率提升、长波红外超晶格探测器暗电流抑制效率优化等关键科学问题和应用发展需求,历经20年攻关,成绩斐然。他,不仅发明GaSb基二元AlSb/AlAs/AlSb/GaSb超晶格数字合金,克服锑化物四元、五元合金组分精确控制和组分互溶,提升光学质量和发光效率;发明As/Sb、Ga/In双交叉外延技术,提升超晶格质量和载流子寿命;创新外延技术,解决应力平衡、缺陷界面调控、表面颗粒抑制难题;锑化物量子阱材料用于2-4微米中波红外激光器,激光单管/巴条/模组的室温连续功率分别达到2.6瓦/18.4瓦/172瓦的国际最高记录(超越禁运指标),超晶格材料用于中长波红外探测器,实现了单色、双色焦平面探测器,国际首次报道>14微米甚长波焦平面成像芯片。这些成果标志着中国的单晶、衬底与外延材料及器件技术成功突破封锁,2023年7月,我国发布锑化物材料管制法规,自此,国内的锑化物半导体技术实现了跨越式的升级。乘风破浪的探索从零开始,一路披荆斩棘,屡获突破,到现在,整个锑化物半导体红外光电产业链逐渐完善和发展,牛智川教授依靠的就是开拓创新,砥砺前行。众所周知,科研是永无止境的,半导体领域的探索更是如此,InAs/GaAs量子点量子光源、InGaAsSb量子阱大功率与单模激光器的问世,就是牛智川教授持续深耕探索的见证。InAs/GaAs基量子点量子光源。面向量子光源核心器件基础研究前沿和量子信息系统重要需求,围绕半导体量子点生长密度和均匀性控制技术挑战,研究发展亚单层InAs循环、束流梯度分布外延新技术,揭示液滴法生长量子环机理,突破量子点相干发光效率、单光子发光速率和全同性瓶颈,实现三项全优性能单光子源,实现量子点单光子量子态存储(Nat. Comm.),发展量子点拓扑角态激光(Light),为构建全固态量子网络提供半导体量子光源器件解决方案。InGaAs(Sb)量子阱激光器。面向中短波红外激光重大需求,围绕量子阱应变临界束缚、拓展波长、提升功效难度难题,发明锑化物数字合金势垒结构,研制成功1.9-3.6微米高功率和单模激光器,其中2.0微米激光器的室温连续功率国际领先突破卡脖子(禁运)条例,发光效率和单模性能超越国际同行。花会沿路盛开,牛智川教授的科研之路也会如此。一个有坚定信念的探索者,总是能够从容的面对荆棘,能以智慧扛起身负的责任和使命。作为中国的半导体人,牛智川教授始终对中国的半导体充满了期待,他认为,中国的半导体处于黄金发展时期,但任何产业的发展都不会一蹴而就,半导体的探索是一场接力赛,“只要有更多的人投入到半导体领域,中国的半导体技术,才会不断突破,产业才会实现可持续发展。”他这样说,也在这样做。作为博士生导师,牛智川教授十分关注学生的成长,毕竟,知识需要传承,科技需要接力,所以,他对学生的学业和科研要求严格,同时,对于学生遇到的问题,也给予指导和引导。目前,他已培养百余位硕士博士学位高级科技人才,这些人才走向了各自的工作岗位,继续助力中国半导体事业的发展。而牛智川教授本人,则继续以国家需求为目标,通过承担国家重点任务立足锑化物半导体领域,在基础研究成果之上,联合国内产学研用各方面力量,发起成立锑化物半导体技术创新与产业发展联盟,通过联盟方式针对各方需求,为国内各装备行业及高科技企业开发多功能高性能光电芯片,推动长期受限于国外技术封锁的红外高端光电芯片的自主可控全链条技术进步,实现从部分性能的超越领跑和满足各类需求的全链条解决方案。当前,半导体技术的代际更替已经进入了微电子与光电子技术的并重发展时代,锑化物窄带隙半导体呈现出第四代半导体光电芯片技术发展的重大潜力。未来,牛智川教授将以锑化物半导体光电材料与芯片为中心,面向智能化信息技术新时代广泛需求,建设完整的技术创新与产业制造链条,并以这样的方式,提升中国半导体的整体竞争和研发能力。在这个喧嚣的时代里,牛智川教授始终踏踏实实,创新探索。不被繁华迷惑,不被名利捆绑,心里,眼里,始终是中国的半导体,或许,正是这份坚定,这份执着,让他在这个领域硕果累累。这就是牛智川,这就是中国的半导体人。个人简介牛智川,中国科学院半导体所二级研究员,博导,中国科学院大学材料科学与光电技术学院量子光电子学首席教授。入选中科院“BR计划”,“国家杰出青年科学基金”、“新世纪百千万人才工程国家级人选(首批)”、“国务院政府特殊津贴”等。先后主持了国家863计划,国家973重大科学研究计划,国家重点基础研发计划等项目,在国际顶尖学术期刊发表了400多篇论文,曾获得北京市自然科学二等奖,中国电子学会自然科学一等奖,湖北省科技进步一等奖等。近年来积极推动引领新型锑化物半导体材料与红外光电器件成果转化,推动了相关制造与装备技术进步。
  • 【HORIBA学术简讯】材料、光电器件、有机化学、高压拉曼、光学材料领域 | 2021年第33期
    “学术简讯”栏目旨在帮助光谱技术使用者时时掌握新发表的科学研究前沿资讯。我们将每周给您推送新增学术论文:包括但不限于主流期刊Nature index、ACS、RSC、Wiley、Elsevier等。帮助您了解全球范围用户使用 HORIBA 光谱技术的新动态,为您的科学研究提供新思路,激发学术灵感。如您对本栏目有任何建议,欢迎留言。本周我们推荐5篇前沿学术成果,针对材料、光电器件、有机化学、高压拉曼、光学材料领域,涉及拉曼、荧光、OSD技术。材料光电器件有机化学高压拉曼光学材料更多光学光谱文献,欢迎访问Wikispectra 文献库。

光电器件相关的方案

光电器件相关的论坛

  • 有机太阳能电池光电器件制备及光伏参数测试

    有机太阳能电池是一种有潜力的绿色光电转换技术,有机太阳能电池的伏安特性曲线是获取器件各个光伏参数的重要手段和方式,因此准确的制备和测量是研究学者和工程师必须面对的问题。本参赛作品以北京理工大学分析测试

  • 电器件布线

    整理了电器件中布线的相关要求,不知道还有没有考虑不全的地方,欢迎大家补充~(1)不同性质的电线(信号线,直流电源线,交流电源线)应分开布置,并保持一定的距离。(2)与接线端子相连的电线电缆,剥线长度按规定执行,剥线时线芯不应有损伤,断股现象。(3)电线穿过金属隔板的孔和口时,必须加以防护,如缠绕管等。(4)线束绑扎时应紧固整齐、横平竖直、外观美观。(5)每根线缆两端必须有牢固的线号,线号管或线号标牌子电缆上应不易移动、视看方便,线标按图纸要求执行。(6)扎点整齐,紧固并保持一定间距,使导线固定在紧致的线束内,扎点不能在导线接头处。(7)每根线的放置基本与线束轴线平行,无交叉。(8)电线和各接线端子连接时,要留一定的弧度,以利于解体和重新连接。(9)导线连接原则上应通过端子,视具体情况采用压接、焊接等方式,电线与连接端采用螺纹式接线座链接时,接线柱对电线电缆的最低保持力应符合工艺文件的规定,接线端子压接后,必须进行抗拉强度测试。(10)对外有一定干扰或自身需防止干扰信号,在布线时需采用屏蔽线。(11)多芯电缆应有10%或至少两根备用绝缘线芯。连接器中应留有相应数量的备用接点。

光电器件相关的资料

光电器件相关的仪器

  • DSR300系列微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低微材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm探测光斑,实现百微米级探测器的*对光谱祥响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试,丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源,例如超连续白光激光器,皮秒脉冲激光器,半导体激光器,卤素灯,氙灯等,满足不同探测器测试功能的要求。是微纳器件研究的优选。 功能:? 光谱响应度? 外量子效率? 单色光/变功率IV;? 不同辐照度IT曲线(分辨率200ms)? 不同偏压下的IT曲线? LBIC,Mapping? 线性度测试? 响应速率测试 微纳器件光谱响应度测试系统主要技术参数显微镜头标配:10倍超长工作距离物镜,工作距离大于17mmNA值:0.42光谱范围:350-800nm选配:1,50倍超长工作距离消色差物镜,工作距离大于17mmNA值:0.42光谱范围:480-1800nm 2,15倍紫外物镜,工作距离大于8.5mmNA值:0.32光谱范围:250-700nm 3,50倍超长工作距离紫外物镜,工作距离大于12mmNA值:0.42光谱范围:240-500nm 4,40倍反射式长工作距离工作距离大于7.8mmNA值:0.5光谱范围:200nm-20um光斑中心空心光源选配光源1、半导体激光器波长:405nm,532nm,633nm,808nm,980nm可选不稳定性:<1% 2、皮秒脉冲激光器波长:375nm,405nm,488nm,785nm,976nm可选脉宽:100ps频率:1-20M Hz 3、氙灯光源光谱范围:250nm-1800nm不稳定性:<1% 4、超连续白光激光光源光谱范围:400-2400nm频率:0.01MHz-200MHz脉宽:100ps光谱仪焦距:300mm;相对孔径:f/3.9;光学结构:C-T;光谱仪分辨率:0.1nm;倒线色散:2.7nm;波长准确度:±0.2nm波长重复性:±0.1nm扫描步距:0.005nm狭缝规格:圆孔抽拉式固定狭缝,孔径:0.2mm,0.5mm,1mm,1.5mm,2mm,2.5mm,3mm;三光栅塔台;光栅配置:1-120-300、1-060-500、1-030-1250,光栅尺寸:68×68mm6档自动滤光片轮,光谱范围200-2000nm;内置电动机械快门,软件控制快门开关;杂散光抑制比:10-5探针台配置4个探针座,配20/10微米针尖探针2米三同轴电缆,漏电流小于1pA。真空吸附样品台。探针座:XYZ方向12mm调节行程,0.75um调节分辨率,0-30°调节探针角度。LBIC MaappingXY方向行程50mm,分辨率5um。数釆v 锁相放大器斩波频率:20Hz~1KHz;频率6位显示,2.4英寸屏,320×240液晶显示;电压输入模式:单端输入或差分输入;电压、电流两种输入模式; 满量程灵敏度:1nV至1V;电流输入增益:106或108V/A;动态储备:>100dB;时间常数范围:10μs至3ks; v keithley2612B量程:100nA/1A最小信号:1nA本地噪音:100pa分辨率:100fa通道数:2 v keithley2636B量程:1nA/1A最小信号:10pA本地噪音:1pa分辨率:10fa通道数:2制冷样品台温度范围:-196℃-600℃,(-196℃需要选择专用冷却系统)全程温度精度/温度性:0.1℃/<0.01℃光孔直径:2.4mm样品区域面积:直径22mm两个样品探针,1个LEMO接头(可增加至1探针)工作距离:4.5-12.5mm气密样品腔室,可充入保护性气体独立温度控制响应速率测试示波器型号:MDO32模拟带宽100MHz采样率5GS/s记录长度10M时间范围:uS-S,需要配合调制激光器使用时间范围:10nS-S,需要配合皮秒脉冲激光器使用 三维可调高稳定探针台结构,方便样品位置调节。内置三路半导体激光器或者两路光纤激光器,外置一路激光光路。可以引入可调单色光源,进行全光谱范围的光谱响应度测试。测试功能曲线:40um光斑@550nm@50倍物镜200um光纤 70um光斑@550nm@50倍物镜400um光纤5um光斑@375nm皮秒激光器@40倍物镜 紫外增强氙灯和EQ99光源的单色光能量曲线,使用40倍反射式物镜,300mm焦距光谱仪,光谱仪使用1200刻线300nm闪耀光栅,光斑直径大小80um。
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  • 定制化光电测试系统待测器件:DFB、VCSEL、PD、硅光等待测器件:光栅、分光器、偏振旋转器、光衰减器、光调制器、光探测器等测试项:损耗、光学带宽、偏振消光比、电阻、暗电流、光电带宽、电光带宽等,按需定制。
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  • 半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 产品介绍:载流子表征的最佳工具本系统针对光电器件 (探测器或光伏器件) 进行光电转换过程的响应行为测量与分析。利用一单色 (单波长) 的光源,对其进行连续脉冲或是周期性的光强调制后,照射到光电器件产生光生电流或是光生电压讯号,并对此进行频域或时域的测量与分析,得到光电器件光电转换过程的重要参数。包含频率响应、爬升/下降时间、LDR线型动态范围、瞬态光电压 (TPV) 、瞬态光电流 (TPC) 等光电转换能力评价参数。用以了解光电器件内部结构与载流子动力学、内部材料组成、器件结构与载流子动力学之关系。作为光电器件特性评价与性能改进的参考。半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 特色:光强线性度测量与分析频率响应测量 0~40MHz可选雷射模块系统波长雷射光调变控制频率响应测量与分析截止频率 (Cut Frequency) 计算分析Rise/ Fall time 测量与分析TPC/TPV 测量与分析高动态光强变化光学调变模块,可自动调变强度 6 个数量级半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 规格TPC/TPV 量测功能雷射波长:半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 应用:有机光传感器 (OPD, Organic Photodiode)钙钛矿光传感器 (PPD, Perovskite Photodiode)量子点光传感器 (QDPD, Quantum Dots Photodiode)新型材料光传感器实证Cs2Pb(SCN)2Br2 单晶光电器件性能表征2021 年 Advanced Materials 期刊报导了第一种无机阳离子拟卤化物二维相钙钛矿单晶 Cs2Pb(SCN)2Br2。作者使用 PD-RS 系统对单晶光电器件进行多种的光电转换响应行为进行测量与分析。其中包含:变光强 IV 曲线测试。变光强光电流与响应度变化测试。定电压下光电转换爬升与下降时间测试。恒定光强脉冲光的时间相关光电流响应测试。TPC/TPV 瞬态光电流/光电压测试。 恒定光强脉冲光的光电流时间响应PD-RS 系统具备高速调制能力的激光器 (爬升/下降时间 5ns),在恒定光强脉冲光条件下,可以对器件进行光电流时间响应测试,并且分析光电器件的爬升/下降时间的分析。以了解光电器件最快的时间响应极限特征。变光强光电流与响应度变化测试 (LDR) PD-RS 具备 120 dB 光强动态范围测试能力。在软件自动化的测试光电流的变化,绘制出待测器件的线性动态范围响应图 (LDR, Linearity Dynamic Range)。LDR 试评估光电器件特性的一项重要指标。由光电流与光强的测试可以得到响应度 (mA/W) 变化,是常用于表征光电器件优劣的参数。
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光电器件相关的耗材

  • 电器件
    货号产品名称规格与型号包装03-917700-00母板(PC板)SP-34系列套03-917704-00FID(PC板)SP-34系列套03-917704-99FID(PC板)SP-34系列 原装套03-917734-00TCD(PC板)放大器SP-34系列套03-917704-01TSD(PC板)SP-34系列套03-917762-00CPU(PC板)SP-34系列套03-917712-00温控板(PC板)SP-34系列套03-917720-00电源板(PC板)SP-34系列套03-917750-00外事4PC板SP-34系列套03-917708-00键盘显示PC板SP-34系列套03-917803-20软键盘SP-3420套03-917816-00键盘扁平电缆(主机)SP-34系列套03-917816-20扁平电缆SP-3420套03-917914-00面膜SP-3400套03-917914-20面膜SP-3420套03-917914-30面膜SP-3430套03-917914-01信号线SP 系列根03-917830-00点火电缆SP 系列根03-917750-00外部事件板(外1)SP 系列块03-918427-00外部事件板(外4)SP 系列块03-917800-00变压器(3400)SP 系列套03-917188-00电磁阀(24V)SP 系列个
  • 微型电子器件插件、X-断面观测插件
    微型电子器件插件采用特制夹具将微型电子器件、太阳能电池以及其他晶片状材料固定在样品杯中,使其免遭到破坏。测试后,样品可以完好无损的取下,重新回到制备环节中去,或者参与其他损耗检测。微型电子器件插件与金像样品杯结合使用,可以直接将样品固定于插件上。不需要在背面粘附样品或者样品表面接触,通过倾斜的夹钳将样品牢固的固定在插件上,16 个夹钳均匀施力,不会造成样品的损坏。X-断面观测插件适合于涂层以及多层半导体器件等断口、断面的观测。与传统的耗时又费钱的树脂镶嵌相比,这种办法简单而快速,且不需要螺丝等其它工具来固定样品。X-断面观测插件与金像样品杯结合使用。借助X-断面观测插件,样品固定在特制夹具中,无需其他辅助工具,可以迅速而简便的对样品的位置进行调整。X-断面观测插件保留样品断面的原始状态,无需抛光,使得观测完毕后样品可重新使用或进行其它检测。
  • 欧姆龙继电器
    继电器一般都有能反映一定输入变量(如电流、电压、功率、阻抗、频率、温度、压力、速度、光等)的感应机构(输入部分);有能对被控电路实现&ldquo 通&rdquo 、&ldquo 断&rdquo 控制的执行机构(输出部分);在继电器的输入部分和输出部分之间,还有对输入量进行耦合隔离,功能处理和对输出部分进行驱动的中间机构(驱动部分)。
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