反射光谱

仪器信息网反射光谱专题为您整合反射光谱相关的最新文章,在反射光谱专题,您不仅可以免费浏览反射光谱的资讯, 同时您还可以浏览反射光谱的相关资料、解决方案,参与社区反射光谱话题讨论。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

反射光谱相关的资讯

  • 基于177.3nm激光的真空紫外光调制反射光谱仪
    CPB仪器与测量栏目最新发文:基于177.3nm激光的真空紫外光调制反射光谱仪,此装置将有望成为高效无损地探测宽禁带半导体材料电子能带结构高阶临界点的有效光学表征手段,并广泛用于超宽禁带半导体材料及其异质结的电子能带结构研究。光调制反射光谱是通过斩波器周期性地改变泵浦光源对样品的照射来测量半导体材料反射率相对变化的一种光谱分析技术。由于所测差分反射率作为能量的函数在材料电子能带结构的联合态密度奇点附近表现出明显的特征,光调制反射光谱已成为研究具有显著电子能带结构的半导体、金属、半金属及其微纳结构和异质结等材料联合态密度临界点的重要实验技术之一。光调制反射光谱中所使用的泵浦激光的光子能量一般要高于被研究材料的带隙,随着第三代宽禁带与超宽禁带半导体材料相关研究和应用的不断深入,需要更高能量的紫外激光作为光调制反射光谱的泵浦光源。目前国际上已报道的光调制反射光谱系统中,配备的泵浦光最大光子能量约5 eV,尚未到达真空紫外波段。因此,迫切需要发展新一代配备高光子能量和高光通量的泵浦光源的光调制反射光谱仪,使其具备探测超宽带隙材料的带隙和一般材料的超高能量临界点的能力。中科院理化所研制的深紫外固态激光源使我国成为世界上唯一一个能够制造实用化深紫外全固态激光器的国家,已成功与多种尖端科研设备相结合并取得重要成果。此文详细介绍了由中科院半导体所谭平恒研究员课题组利用该深紫外固态激光源搭建的国际上首台真空紫外光调制反射光谱仪(图1)的系统设计和构造,将光谱仪器技术、真空技术、低温技术与中科院理化所研制的177.3 nm深紫外激光源相结合,同时采用双单色仪扫描技术和双调制探测技术,有效避免了光调制反射光谱采集中的荧光信号的干扰,提高了采集灵敏度。该系统将光调制反射技术的能量探测范围从常规的近红外至可见光波段扩展至深紫外波段,光谱分辨率优于0.06 nm,控温范围8 K~300 K,真空度低至10-6 hPa, 光调制反射信号强度可达10-4。通过对典型半导体材料GaAs和GaN在近红外波段至深紫外波段的光调制反射信号的测量对其探测能力进行了性能验证(图2)。此装置将有望成为高效无损地探测宽禁带半导体材料电子能带结构高阶临界点的有效光学表征手段,并广泛用于超宽禁带半导体材料及其异质结的电子能带结构研究。该系统基于中科院半导体所承担的国家重大科研装备研制项目“深紫外固态激光源前沿装备研制(二期)”子项目“深紫外激光调制反射光谱仪”,目前已经初步应用于多种半导体材料在深紫外能量范围内的能带结构和物性研究,并入选《中国科学院自主研制科学仪器》产品名录,将有望在推动超宽禁带半导体材料的电子能带结构研究、优化超宽禁带光电子器件的性能方面发挥重要作用。图1. 深紫外激光调制反射光谱仪图2. 177.3 nm(7.0 eV)激光泵浦下的GaAs在1.2 eV至6 eV内的双调制反射光谱及对应能级跃迁
  • 基于步进扫描的光调制反射光谱方法及装置获国家专利授权
    近日,一种“基于步进扫描的光调制反射光谱方法及装置”近日获得国家知识产权局专利授权。该专利由中科院上海技术物理研究所邵军、陆卫等科研人员发明。 该装置包括傅立叶变换红外光谱测量系统、作为泵浦光源的激光器、以及联结傅立叶变换红外光谱仪中探测器与电路控制板的锁相放大器和低通滤波器,置于样品与激光器之间光路上的斩波器,从而使连续泵浦激光变为调制激光,并馈入锁相放大器的输入参考端来控制锁相。该方法使用上述装置进行光调制反射光谱测量,包括消除泵浦光的漫反射信号以及泵浦光产生的光致发光信号的干扰;消除傅立叶频率和增强中、远红外波段微弱光信号的探测能力三个功能。 经过对分子束外延生长GaNxAs1-x/GaAs 单量子阱样品和Ga1-xInxP/AlGaInP多量子阱材料的光调制反射光谱实际测试。表明本发明显著提高探测灵敏度和光谱信噪比,并具有快速、便捷的优点,特别适用于中、远红外光电材料微弱光特性的检测。
  • 中国大鲵近红外反射光谱(NIRS)研究获得新进展
    近期,陕西省动物研究所大鲵科研团队与美国孟菲斯动物学会、密西西比州立大学联合攻关的&ldquo 利用近红外技术判定大鲵性别的研究&rdquo 项目取得了部分成果,在英国IM出版社的新闻通讯部分(2015年第26卷第2期)发表,并被选做杂志封面。   NIR 讯息是国际近红外光谱学协会的新闻通讯,提供最新的近红外界内新闻。它以全面,有趣的文章展示近红外光谱学的实际应用。   近红外反射光谱研究,是通过扫描样品的近红外光谱,可以得到样品的特征信息,收集数据建立模型,进而对未知样品进行准确预测。利用近红外光谱技术分析样品具有方便、快速、高效、准确和成本较低,不破坏样品,不消耗化学试剂,不污染环境等优点,广泛应用于动物生理、营养、健康,特别是动物行为、数量统计、繁殖和疾病等方面。此技术将为我国大鲵研究提供新的技术和手段。   Near infrared reflectance spectroscopy studies of Chinese giant salamanders in aquaculture production   Carrie K. Vance, Andrew J. Kouba, Hong-Xing Zhang, Hu Zhao, Qijun Wang and Scott T. Willard   http://www.impublications.com/content/nir-news-table-contents?issue=26_2   大鲵近红外扫描

反射光谱相关的方案

反射光谱相关的论坛

反射光谱相关的资料

反射光谱相关的仪器

  • 透射、反射/吸收光谱测量系统介绍 透射、反射/吸收率是光学元件(如光学材料、滤光片、镀膜等)与多种生活材料(玻璃、布料、汽车贴膜等)的重要光学特性指标,我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光谱测量系统正是针对此应用需求,而设计的高集成度,自动化的测量系统,它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反射率的光谱测试。系统组成:光源系统+分光系统+样品检测系统+数据采集及处理系统+软件系统+计算机系统■ ZLX-AS系列吸收、透射/反射光谱测量系统
    留言咨询
  • 中空回归反射器和角锥棱镜一样,可以反射所有入射的光线,返回到原来入射方向的光学元件。将3个反射镜精密地90度组合在一起,没有玻璃的折射率的波长分散或玻璃的吸收的影响。 中空角锥反射镜经过精密加工调节,可以高精度返回光线。可用于从紫外光到近红外的宽波长谱区。没有因为玻璃引起的波长分散,返回光的光束位置不会随波长变化产生差异。?偏光特性较小,也可以用于利用偏光的多重光路干涉仪等中。中空回归反射器共同指标功能说明图注意?光束入射到角锥棱镜时,光束能够正确地以与入射角度相同的角度返回。光束的入射位置偏离角锥棱镜的中心时,光束将从中心的另一侧在偏离中心相同距离的位置射出。?中空角锥反射镜的3个反射面的交叉接合处存在缝隙,从入射 出射面观察室可以看到6根不反射光束的呈放射状棱线。使用细的激光光束时,请不要使光束接触到这6根棱线。?中空角锥反射镜具有铝反射膜的一些偏光特性。?请不要用纸擦拭反射面。由于铝膜没镀有保护膜所以容易受损。请用清洁用压缩气罐吹走灰尘后使用。?铝膜的反射率为85%?0%(1面),由于中空角锥反射镜必定是3面反射,所以返回光的效率为61%?3%。 中空回归反射器外形图中空回归反射器技术指标
    留言咨询
  • 显微反射光谱仪 400-860-5168转6044
    显微反射光谱仪,YOA-8405 描述YOA-8405显微反射光谱仪结合了显微镜对微小区域实时成像和微型光谱仪实时光谱采集的特点,实现了微米级样品反射光谱和色度学参数的测量。该仪器模块化设计,用户可以根据实际应用需求灵活配置光谱仪和显微镜,采用标准化和一体化设计的显微光谱模块更是可以灵活安装在大部分显微镜上,搭配专业的分析和数据采集软件,可以广泛应用于司法鉴定、材料分析和生化检测等领域。特点微米级别的样品测量模块的设计,配置灵活,根据不同的需求配置光谱仪和显微镜丰富的光谱仪配置:常规型、面阵型和制冷型光谱仪一体化的显微反射光谱模块安装便捷:通过标准接口固定安装于显微镜上专业的测试软件,提供色度坐标和色品图支持深度定制和二次开发应用司法鉴定生化样品分析材料分析防伪分析技术参数典型测试数据更多精彩内容,请关注下方!
    留言咨询

反射光谱相关的耗材

  • 透反射测量支架 如海光电 透/反射光谱
    SA-Stage-RT透反射测量支架 关键词:反射/透射/漫反射光谱 1 产品简介SA-Stage-RT透反射测量支架是一个新型的,能满足透射和反射测量的采样支架。适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料等一类的材料。SA-Stage-RT与如海光电的光纤光谱仪、光源、积分球有多种组合方式。可以同时满足客户对于反射光谱测量和透射光谱测量的需求。 2 产品功能示意图3 产品参数产品参数SA-Stage-RT底座尺寸φ150mm样品区域尺寸宽度<100mm样品通光口径(透射测量)直径10mm调节高度~150mm(其他长度可以定制)准直镜波长范围200~2500nm台体材料阳极氧化铝反射积分球用于连接38毫米积分球(另外选配)用途 专为透反射光纤测量而设计,能有效固定光纤,防止因抖动等人为因素影响检测效果
  • 单点反射支架 如海光电 反射光谱
    SA-Stage-C 单点反射支架SA-Stage-C单点反射测量支架是一个光纤探头支架,用于厚度达150mm的光学层和其它基底的反射测量。这一反射光纤探头支架适于固定直径达6.35mm的反射光纤探头和其它取样设备,可以在一个不锈钢支柱上上下滑行,调节高度可达80mm。规格 SA-Stage-C尺寸:Φ 150mm×厚10mm高度:垂直可调高度80mm材质:铝合金表面处理:亚光发黑适配产品: QR系列反射光纤用途:专为反射光纤测量而设计,能有效固定光纤探头,防止因抖动等人为因素影响检测效果。
  • 用于反射光谱的参考反光镜 N1010504
    用于反射光谱的参考反光镜订货信息:产品描述部件编号用于反射光谱的参考反光镜N1010504在对珀金埃尔默和非珀金埃尔默的反射附件进行镜面反射校准时,需要使用这种反光镜。这种带有氟化镁涂层的铝制反光镜是一种次级标准品并按照GLP规定在250-2500 nm的波长范围内进行了校准;本品也包括关于进行%RC反射校正所需的便捷转移介质的光谱数据。
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制