相位失配追踪

STR-21G 太阳追踪器紧凑的单臂太阳追踪器是完美支持各种总辐射、散射辐射和直接辐射测量传感器。STR-21G是太阳监测系统（STR-21G-S）的基础，是EKO提供的一站式测量解决方案。STR-21G借助GPS接收器实现全自动设置，功能更强大且更加可靠。 从日出到日落，紧凑的太阳追踪器保证了精确的太阳追踪和相连接的太阳传感器的指向。即使追踪器没有正确定向或调平，2轴追踪器也可以通过太阳传感器闭环控制系统自动调整到太阳位置。太阳追踪器标配一个台式三脚架（可提供更大的三脚架）。24伏直流低功耗追踪器可由太阳能电池系统或直流电源供电，也可以用宽范围的交流电源适配器连接到电网。20多年来，我们使用过STR 太阳追踪器的客户已经体验了轻松的设置、操作和可靠的追踪。主要参数：规格STR-21G臂1指向精度 太阳高度角: 0 - 87° 0.01 °角度分辨率0.009 °旋转角 天顶-15 - 95 °旋转角 方位角0 - 360 °转矩12 Nm有效载荷 侧臂7.5 kg (总负载15kg)太阳传感器视场角30 °入口保护 IP65工作温度范围-40 - 60 °C通信RS-422 / 232C能耗 10 W电源21 to 31 VDC / 15W电源 (电源适配器)100 to 240 VAC / 20W尺寸 mm430 (W) x 380 (L) x 440 (H)重量14.5 kg (带三脚架)马达步进马达驱动技术Harmonic drive追踪模式太阳定位/自动定位三脚架台式三角架直接辐射表基座可调节/单位置电缆长度10 m

IV曲线追踪扫描仪& 半导体图示仪 能测 IGBT. Mosfet. Diode. BJT......STD2000IV曲线追踪扫描仪系统能测试很多电子元器件的静态直流参数（如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、导通内阻Rds(on)）。测试种类覆盖 7 大类别26分类，包括“二极管类”“三极管类（如BJT、MOSFET、IGBT）”“保护类器件”“稳压集成类”“继电器类”“光耦类”“传感监测类”等品类的繁多的电子元器件。高压源标配1400V（选配2KV），高流源标配100A（选配40A,200A,500A）控制极/栅极电压40V，栅极电流100mA分辨率最高至1.5uV / 1.5pA，精度最高可至0.1%STD2000IV曲线追踪扫描仪系统适用于曲线追踪仪还可测试“结电容”，支持“脉冲式一键加热”和“分选机连接” 陕西天士立科技有限公司研发生产 半导体检测电学检测可靠性检测老化实验 各类仪器设备第二部分：应用场景和产品特点 一、应用场景1、测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试，主要功能为曲线追踪仪）2、失效分析（对失效器件进行测试分析，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案）3、选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）4、来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率） 5、量产测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试）6、替代进口（STD2000IV曲线追踪扫描仪系统可替代同级别进口产品）二、产品特点1、程控高压源10~1400V，提供2000V选配；2、程控高流源1uA~100A，提供40A,200A,500A选配；3、驱动电压10mV~40V4、控制极电流10uA~100mA；5、16位ADC，1M/S采样速率；6、自动识别器件极性 NPN/PNP7、曲线追踪仪，四线开尔文连接保证加载测量的准确8、通过 RS232 接口连接校准数字表，对系统进行校验9、不同的封装形式提供对应的夹具和适配器（如TO220、SOP-8、DIP、SOT-23等等）10、IV曲线追踪扫描仪系统能测很多电子元器件（如二极管、三极管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、继电器等等）；11、IV曲线追踪扫描仪系统能实现曲线追踪仪（如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、导通内阻Rds(on) ）12、结电容参数也可以测试，诸如Cka，Ciss，Crss，Coss；13、脉冲电流自动加热功能，方便高温测试 14、Prober 接口、Handler 接口可选（16Bin），连接分选机最高效率1h/9000个；15、IV曲线追踪扫描仪系统在各大电子厂的IQC、实验室有着广泛的应用； 陕西天士立科技有限公司研发生产 半导体检测电学检测可靠性检测老化实验 各类仪器设备第三部分：产品介绍3.1、产品介绍STD2000IV曲线追踪扫描仪系统 是由我公司技术团队结合IV曲线追踪扫描仪系统的多年经验，以及众多国内外测试系统产品的熟悉了解后，完全自主开发设计的全新一代“IV曲线追踪扫描仪系统”。软件及硬件均由团队自主完成。这就决定了这款产品的功能性和可靠性能够得到持续完善和不断的提升。 IV曲线追踪扫描仪系统脉冲信号源输出方面，高压源标配1400V（选配2KV），高流源标配100A（选配40A,200A,500A）栅极电压40V，栅极电流100mA，分辨率最高至1uV / 1.5pA，精度最高可至0.1%。程控软件基于Lab VIEW平台编写，填充式菜单界面。采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。产品可测试 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 等7大类26分类的电子元器件。涵盖电子产品中几乎所有的常见器件。无论电压电流源还是功能配置都有着极强的扩展性。 产品为桌面放置的台式机结构，由测试主机和程控电脑两大部分组成。各类夹具和适配器，还能够通过Prober 接口、Handler 接口可选（16Bin）连接分选机和机械手建立工作站，实现快速批量化测试。通过软件设置可依照被测器件的参数等级进行自动分类存放。能够极好的应对“来料检验”“失效分析”“选型配对”“量产测试”等不同场景。 IV曲线追踪扫描仪系统产品的可靠性和测试数据的重复性以及测试效率都有着非常优秀的表现。创新的“点控式夹具”让操作人员在夹具上实现一点即测。操作更简单效率更高。测试数据可保存为EXCEL文本，方便快捷的完成曲线追踪仪。3.2、人机界面（STD2000IV曲线追踪扫描仪系统）第四部分：功能配置4.1、配置选项STD2000IV曲线追踪扫描仪系统的功能配置如下4.2、适配器选型STD2000IV曲线追踪扫描仪系统的适配器有如下 4.3、测试种类及参数STD2000IV曲线追踪扫描仪系统的测试种类和参数如下(1)二极管类：二极管 DiodeKelvin，Vrrm，Irrm，Vf，△Vf，△Vrrm，Cka，Tr（选配）；(2)二极管类：稳压二极管 ZD（Zener Diode）Kelvin，Vz，lr，Vf，△Vf，△Vz，Roz，lzm，Cka；(3)二极管类：稳压二极管 ZD（Zener Diode）Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz、Roz、lzm、Cka；(4)二极管类：三端肖特基二极管SBD（SchottkyBarrierDiode）Kelvin 、Type_ident 、Pin_test 、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm、Cka、Tr（选配）；(5)二极管类：瞬态二极管 TVSKelvin 、Vrrm 、Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka ；(6)二极管类：整流桥堆Kelvin 、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka；(7)二极管类：三相整流桥堆Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka；(8)三极管类：三极管Kelvin 、Type_ident、Pin_chk 、V(br)cbo 、V(br)ceo 、V(br)ebo 、Icbo、lceo、Iebo、Hfe、Vce(sat)、Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo 、△Bvcbo 、Vbe、lcm、Vsd 、Ccbo 、Cces、Heater、Tr （选配）、Ts（选配）、Value_process；(9) 三极管类：双向可控硅Kelvin、Type_ident、Qs_chk、Pin_test、Igt、Vgt、Vtm、Vdrm、Vrrm、Vdrm rrm、Irrm、 Idrm、Irrm_drm、Ih、IL、C_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm；(10)三极管类：单向可控硅Kelvin、 Type_ident、 Qs_chk、 Pin test、 lgt、 Vgt、 Vtm、 Vdrm Vrrm、 IH、IL、△Vdrm△Vrrm、Vtm；(11)三极管类：MOSFETKelvin 、Type_ident、Pin_test、VGS(th) 、V(BR)Dss 、Rds(on) 、Bvds_rz、△Bvds、Gfs、Igss、ldss 、Idss zero 、Vds(on)、 Vsd、Ciss、Coss、Crss、Bvgs 、ld_lim 、Heater、Value_proces、△Rds(on) ；(12)三极管类：双MOSFETKelvin、 Pin_chk、Ic_fx_chk、 Type_ident、 Vgs1(th)、 VGs2(th)、 VBR)Dss1、 VBR)Dss2、 Rds1(on)、 Rds2(on)、 Bvds1 rz、 Bvds2_rz、 Gfs1、Gfs2、lgss1、lgss2、Idss1、Idss2、Vsd1、Vsd2、Ciss、Coss、Crss；(13)三极管类：JFETKelvin、VGS(off )、V(BR)Dss、Rds(on)、Bvds_rz、Gfs、lgss、 Idss(off)、 Idss(on)、 vds(on)、 Vsd、Ciss、Crss、Coss；(14)三极管类：IGBTKelvin、VGE(th)、V(BR)CES、Vce(on)、Gfe、lges、 lces、Vf、Ciss、Coss、Crss；(15)三极管类：三端开关功率驱动器Kelvin、Vbb(AZ)、 Von(CL)、 Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt；(16)三极管类：七端半桥驱动器Kelvin、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt；(17)三极管类：高边功率开关Kelvin、Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、ll(Iim)、Coss、Fun_pin_volt；(18)保护类：压敏电阻Kelvin、Vrrm、 Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、 △Vr (19)保护类：单组电压保护器Kelvin 、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr；(20)保护类：双组电压保护器Kelvin、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr；(21)稳压集成类：三端稳压器Kelvin 、Type_ident 、Treg_ix_chk 、Vout 、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△IB、VD、ISC、Max_lo、Ro、Ext _Sw、Ic_fx_chk；(22)稳压集成类：基准IC（TL431）Kelvin、Vref、△Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka；(23)稳压集成类：四端稳压Kelvin、Type_ident、Treg_ix_chk、Vout、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△lB、VD、Isc、Max_lo、Ro、Ext_Sw、Ic_fx_chk；(24)稳压集成类：开关稳压集成器选配；(25)继电器类：4脚单刀单组、5脚单刀双组、8脚双组双刀、8脚双组四刀、固态继电器Kelvin、Pin_chk、Dip6_type_ident、Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、Ton（选配）、Toff（选配）；(26)光耦类：4脚光耦、6脚光耦、8脚光耦、16脚光耦Kelvin、Pin_chk、Vf、Ir、Bvceo、Bveco、Iceo、Ctr、Vce(sat)、Tr、Tf；(27)传感监测类：电流传感器（ACS712XX系列、CSNR_15XX系列）（选配）；霍尔器件（MT44XX系列、A12XX系列）（选配）；电压监控器（选配）；电压复位IC（选配）；曲线追踪仪陕西天士立科技有限公司研发生产 半导体检测电学检测可靠性检测老化实验 各类仪器设备 第五部分：性能指标STD2000IV曲线追踪扫描仪系统的性能指标如下5.1、电流/电压源（VIS）自带VI测量单元（1）加压(FV)量程±40V分辨率625uV精度±0.1% 设定值±3mV量程±20V分辨率320uV精度±0.1% 设定值±3mV量程±10V分辨率160uV精度±0.1% 设定值±3mV量程±5V分辨率80uV精度±0.1% 设定值±2mV量程±2V分辨率32uV精度±0.1% 设定值±2mV（2）加流(FI)量程±40A 分辨率625uA精度±0.5% 设定值±30mA量程±4A 分辨率62.5uA精度±0.2% 设定值±2mA量程±400mA分辨率6.25uA精度±0.1% 设定值±500uA量程±40mA分辨率625nA精度±0.1% 设定值±50uA量程±4mA分辨率62.5nA精度±0.1% 设定值±5uA量程±400uA分辨率6.25nA精度±0.1% 设定值±500nA量程±40uA分辨率625pA精度±0.1% 设定值±50nA量程±4uA分辨率62.5pA精度±0.1% 设定值±5nA说明：电流大于1.5A自动转为脉冲方式输出，脉宽范围：300us-1000us可调（3）电流测量(MI)量程±40A分辨率1.22mA精度±1% 读数值±20mA 量程±4A分辨率122uA精度±0.5% 读数值±2mA 量程±400mA分辨率12.2uA精度±0.5% 读数值±200uA 量程±40mA分辨率1.22uA精度±0.5% 读数值±20uA 量程±4mA分辨率122nA精度±0.5% 读数值±2uA 量程±400uA分辨率12.2nA精度±0.5% 读数值±200nA 量程±40uA分辨率1.22nA精度±1% 读数值±20nA （4）电压测量(MV)量程±40V分辨率1.22mV精度±1% 读数值±20mV 量程±20V分辨率122uV 精度±0.5% 读数值±2mV 量程±10V分辨率12.2uV 精度±0.5% 读数值±200uV 量程±5V分辨率1.22uV 精度±0.5% 读数值±20uV 5.2、数据采集部分（VM）16位ADC，1M/S采样速率（1）电压测量(MV)量程±2000V分辨率30.5mV精度±0.5%读数值±200mV 量程±1000V分辨率15.3mV精度±0.2%读数值±20mV 量程±100V分辨率1.53mV精度±0.1%读数值±10mV 量程±10V分辨率153uV精度±0.1%读数值±5mV 量程±1V分辨率15.3uV精度±0.1%读数值±2mV 量程±0.1V分辨率1.53uV精度±0.2%读数值±2mV （2）漏电流测量(MI)量程±100mA分辨率1.53uA精度±0.2%读数值±100uA 量程±10mA分辨率153nA精度±0.1%读数值±3uA 量程±1mA分辨率15.3nA精度±0.1%读数值±300nA 量程±100uA分辨率1.53nA精度±0.1%读数值±100nA 量程±10uA分辨率153pA精度±0.1%读数值±20nA量程±1uA 分辨率15.3pA精度±0.5%读数值±5nA 量程±100nA分辨率1.53pA精度±0.5%读数值±0.5nA （3）电容容量测量(MC)量程6nF分辨率10PF精度±5%读数值±50PF 量程60nF分辨率100PF精度±5%读数值±100PF 5.3、高压源（HVS）(基本)12位DAC（1）加压(FV)量程2000V/10mA分辨率30.5mV精度±0.5%设定值±500mV 量程200V/10mA分辨率30.5mV精度±0.2%设定值±50mV 量程40V/50mA分辨率30.5mV精度±0.1%设定值±5mV （2）加流(FI)：量程10mA分辨率3.81uA 精度±0.5%设定值±10uA量程2mA分辨率381nA精度±0.5%设定值±2uA量程200uA分辨率38.1nA精度±0.5%设定值±200nA量程20uA分辨率3.81nA精度±0.5%设定值±20nA量程2uA分辨率381pA精度±0.5%设定值±20nA STD2000IV曲线追踪扫描仪系统能测很多电子元器件（如二极管、三极管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、继电器等等）产品广泛的应用在院所高校、封测厂、电子厂.....

obson Technologies IncRTI 的自动曲动追踪系统是半导体行业的领先供货商。 MultiTrace 的客户多是芯片制造商，封装测试代工厂及广为人知的私人测试实验室。“曲线追踪 (Curve tracing)” 是用于寻找IC芯片中被电损坏的引脚的方法。MultiTrace 的产品提供广泛的一系列解决方案，可以使用 powered curve trace 测试小型芯片的开路/短路和使用 Latch-up 方式来测试非常复杂的多电路的芯片。什么是 Curve Tracing?"Curve tracing" 曲线追踪是用于寻找 IC 芯片中被电损坏的引脚的方法。MultiTrace 产品提供了广泛的一系列解决方案，从使用 powered curve tracing 测试小型芯片的开路/短路到使用 Latch Up testing 测试与更为复杂的多电路的芯片。RTI's MT Century Curve Tracer RTI 开发的 MT Century Curve Tracer 是一个性价比较高的曲线追踪设备。MT Century Curve Tracer 测试设备，最多到 96 个 channel，提供 4 种型号可供客户选择，一定会找到一款符合客户的预算及测试要求的系统。MT Century Curve Tracer 与 RTI 其他大型 curve trace 拥有一样的可靠性，功率和软件。像其他 RTI 机型一样，MT Century 系统的设计有与 950 系列的及其它专用夹具连接的接口。 RTI's MultiTrace Test System原来的自动曲线跟踪器已经提供超过 10 年。这款系统可以最高检测达 1080 引脚。 它有各种尺寸可供选择，以满足最广泛用户的需求。MultiTrace 的应用：无源曲线追踪器 (Unpowered Curve Tracing)：检测开路，短路和漏电流有源曲线追踪器 (Powered Curve Tracing)：检测漏电流，供电电流问题。 测量大量有用的参数电源电流测量 (Supply Current Measurements)：两种方法来测量电流供应。A 6-Bus 系统可同时对 3 组电源测量Latch Up 测试: (选配)根据JESD 78 特征, 找出 Latch-Up 敏感度 基础 Curve Tracing 的应用： Input-Output 转换功能：将输入电压接到引脚上，测量输出引脚电平变化对晶体管做曲线分析：检测任何型号的晶体管显微镜：使用显微镜定位原件的损伤部位IDDQ 测试：测量芯片每个状态的电流输入功能性的引导能力：Change Input Pin States According to an Input File Then Measure What you Need. Ability to Measure Output States Allows for Gross Functional Testing根据所输入信息改变输入 Pin 的状态，然后进行量测。测量输出区域的功能测试状态。Kelvin 4-Wire 阻力测试：使用这种特制的应用软件来控制开关矩阵和收集的数据，实现精密的电阻测量。RTI's MegaTrace 自动直流参数曲线追踪MegaTrace 由 648 引脚开始一直到 2160 的引脚，因此其有足够的能力来测试几乎任何芯片。机器集成化较高，机台很容易移动，也可以与其他仪器如显微镜，探针台，以及其他远程测试机器一起使用。曲线追踪功能&bull Unpowered 曲线追踪 (连续测试)&bull Powered 曲线追踪&bull Supply Current Characterization (Idd 测试)&bull 6 条总线系统的 2VDD 及 3 VDD 测试其它测量及测试功能&bull Latch-Up 测试&bull 功能性预处理&bull 任何的 ±15V 一& ±1A 直流测量