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瞬态荧光光谱是用来测荧光寿命,荧光衰减曲线的,但是荧光寿命成像(FLIM)的时候也能得到各个点的衰减曲线,也能得到荧光寿命。这两个一样么?能直接用FLIM来做荧光寿命的分析么?求高手指教~不胜感激
小弟最近做荧光寿命实验,得到的数据拟合为3指数方程,老师说不拟合,直接用数据衰减到原来的1/e的时间算寿命,请问各位大虾,如何作衰减曲线啊?
前两天看到一种说法,说ECD即使不用,放射源也会自然衰变,过几年寿命就到了。那么这个“不使用,就放在那里自然衰变而寿命到了”的年限,就该是ECD检测器的最大寿命了吧?我们可以暂时命名为Lmax。然而实际使用中,因为加热、氧气、水、样品脏等复杂的使用环境,则ECD检测器的实际寿命是小于最大寿命Lmax的。我们把因为使用而导致减少的寿命,暂且命名为Ls因此可以得出一个计算式:实际寿命L=最大寿命Lmax - 寿命衰减Ls还有另外一个说法,岛津GC-2010的ECD检测器为了追求更大灵敏度,于是把放射源做的很薄、很小、检测池也很小,于是就比普通ECD坏的更快,差不多用个一年放射源就坏了。然而灵敏度不太高的GC-2014的ECD,反而用个三年都没坏。假如这个说法是真的,那么从中可以推论,岛津的ECD-2010的最大寿命max < ECD-2014的最大寿命Lmax。一个猜想:比较薄、比较脆弱的ECD检测器,Ls可能也是大于比较厚、灵敏度不太高的ECD的Ls的。那么,衰减寿命暂时姑且不论,则各家的ECD检测器的Lmax大约会是多少年呢?据我所知好像现在安捷伦6890之后的ECD都是微池的(名字干脆都改了叫uECD),放射源好像是4*6mm的很薄一片(如果记得不错的话),比5890时代的小很多,因此灵敏度也高很多。安装的时候工程师还说“使用的时候要注意,不然安捷伦ECD比国产气相的ECD更容易坏”前两天版里shenzhiboai版友曾经发过一贴说,热电ECD比安捷伦的更灵敏了几百倍(参见:http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20140615/5348457/)那么是否热电的ECD寿命Lmax可能会比安捷伦的更短呢?细思果然极恐啊。。不会也会向岛津那样,一年就坏掉的吧!其他家的检测器呢?谈谈你用坏掉的ECD检测器是用了多少年?使用频率高么?