平面光极检测

一, GTI 啁啾激光反射镜 1030nmGIRES-TOURNOIS-INTERFEROMETER (GTI)啁啾反射镜用于短脉冲激光器（如Yb:YAG或Yb:KGW激光器）中的脉冲压缩。筱晓还为钛宝石波长范围和其他近红外光谱范围的飞秒激光提供GTI反射镜。与棱镜压缩器相比，GTI反射镜减少了腔内损耗。GTI 啁啾激光反射镜 1030nm,GTI 啁啾激光反射镜 1030nm通用参数特点&bull 非常高的反射率&bull 中心波长、带宽和GDD符合客户规格请注意，带宽和GDD是紧密相连的。&bull 负GDD的高值会导致非常窄的带宽光谱&bull 公差为中心波长的±1%。&bull 内部设计计算和测量能力（GDD 250–1700 nm，CRD 210–1800 nm的反射率测量）产品应用● 脉冲压缩● 超快激光器● 光通道诊断 参数材质红外级熔融石英 Infrasil形状圆形直径(Ø )12.7，25.4 mm ,50.8(-0.1 mm)厚度(t)6.35 mm (±0.1 mm)边缘厚度6.35 mm平行度5ʹ 光学参数 正面(S2)光学参数 背面(S1)形状凹面形状平面曲率半径1,000 mm (±1 %)倒角0.3 mm (±0.1 mm)倒角0.3 mm (±0.1 mm)测试区 Ø e20测试区 Ø e20曲面容差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]曲面容差3/-(0.2) [L/10 reg. @546.1nm]清洁度5/2x0.04 L1x0.004清洁度5/2x0.04 L1x0.004 内部测试区Ø e 10清洁度 5/2x0.016//5minS1: commercial polish | chamfer 0.3 uncoatedS2(^): Ø e10 | 3/0.2(0.2) [L/10] | 5/2x0.025 L1x0.004 | chamfer 0.3 HRu(10°,1030nm)99.9% GDD-Rp(10°,1030nm)= -2500(±500)fs² 有关操作功率【1】 [1]. ≈ 0.1 J/cm² , 800 nm, 150 fs,Measurements were performed at Laser Zentrum Hannover相关测试GTI&thinsp -&thinsp MIRRORS 应用在Yb:YAG&hairsp - AND Yb:KGW-&hairsp LASERS图4:GDD（0°-10°，1030 nm）~-700 fs2的后侧GTI后视镜的GDD光谱。反射镜通过正面有AR涂层的基板进行照射。背面GTI反射镜对表面污染不敏感，表面污染有时会扭曲正面GTI反射镜的GDD光谱二, 光腔衰荡低色散高反射镜片,标准版激光反射镜 1550nm损耗急低的激光光学器件，对于要求急低损耗的镀膜光学器件应用, 筱晓光子可提供R 99.995 %、总损失小于10 ppm的反射镜。此类超级反射镜片可用于环形激光器陀螺仪组件或光腔衰荡应用。对超抛光基材加工低吸收、低散射镀膜时，我们会采用改进型IBS镀膜机。而为了保证清洁度，此类机器会存放在专用的超清洁室内，并且与生产相关的基材预处理和后期处理流程全部在此清洁室内完成。 此外，超清洁室内还配置有多种测量设备，如检测流程所使用的白光表面光度仪和高分辨率显微镜。利用定制光腔衰荡设置可以确定反射量（精度可达小数点后四位）以及损耗。 而测定以上数值必须使用表面粗糙度小于 1 &angst rms的超抛光基材。为了保证反射镜成品的品质，还会使用白光表面光度仪进行质量检测光腔衰荡低色散高反射镜片,标准版激光反射镜 1550nm,光腔衰荡低色散高反射镜片,标准版激光反射镜 1550nm技术参数产品特点：低损耗可定制不同尺寸入射角：0deg/45deg可选 应用领域：TDLAS光腔衰荡 产品名称140977 标准版激光反射镜类别低色散激光镜片激光器类别Yb:YAG-激光器激光器类型Nd:YAG-激光器涂覆层材料(下面)137683涂覆层材料(背面)140851光学参数材质红外硅302形状圆形直径(Ø )25 mm (-0.1 mm)厚度(t)6.35 mm (±0.1 mm)边缘厚度6.35 mm平行度5ʹ 光学参数 正面(S2)光学参数 背面(S1)形状凹面形状平面曲率半径1,000 mm (±1 %)倒角0.3 mm (±0.1 mm)倒角0.3 mm (±0.1 mm)测试区 Ø e20测试区 Ø e20曲面容差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]曲面容差3/-(0.2) [L/10 reg. @546.1nm]清洁度5/2x0.04 L1x0.004清洁度5/2x0.04 L1x0.004内部测试区Ø e 10清洁度 5/2x0.016涂覆层规格 正面(S2) (137683)涂覆层规格 背面(S1) (140851)1st 工作范围 高反射(0°,1550nm)99.99%1st 工作范围 减反射(0°,1450-1650nm)0.2%类别 高反射率偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1550 nm高反射 99.99 %类别 减反射偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1450 - 1650 nm AR / HT 0.2 %2nd 工作范围 T(0°,1550nm)~0.005%类别 透射率偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1550 nmHT ~ 0.005 %三, LAYERTEC 低损耗超高激光反射 平面镜 1550nm损耗急低的激光光学器件，对于要求急低损耗的镀膜光学器件应用, 筱晓光子可提供R 99.995 %、总损失小于10 ppm的反射镜。此类超级反射镜片可用于环形激光器陀螺仪组件或光腔衰荡应用。对超抛光基材加工低吸收、低散射镀膜时，我们会采用改进型IBS镀膜机。而为了保证清洁度，此类机器会存放在专用的超清洁室内，并且与生产相关的基材预处理和后期处理流程全部在此清洁室内完成。 此外，超清洁室内还配置有多种测量设备，如检测流程所使用的白光表面光度仪和高分辨率显微镜。利用定制光腔衰荡设置可以确定反射量（精度可达小数点后四位）以及损耗。 而测定以上数值必须使用表面粗糙度小于 1 &angst rms的超抛光基材。为了保证反射镜成品的品质，还会使用白光表面光度仪进行质量检测LAYERTEC 低损耗超高激光反射 平面镜 1550nm, LAYERTEC 低损耗超高激光反射 平面镜 1550nm通用参数产品特点：低损耗可定制不同尺寸入射角：0deg 应用领域：TDLAS光腔衰荡 产品名称149595标准版激光平面反射镜类别低损耗光学器件涂覆层材料(下面)137683涂覆层材料(背面)140851光学通用参数材质Infrasil 302形状圆形直径(Ø )25 mm (-0.1 mm)厚度(t)6.35 mm (±0.1 mm)平行度5ʹ 光学参数 正面(S2)光学参数 背面(S1)形状平面形状平面倒角0.3 mm (±0.1 mm)倒角0.3 mm (±0.1 mm)测试区(Test area) Ø e21测试区(Test area) Ø e21表面形状公差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]表面形状公差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]清洁度5/1x0.04 L1x0.004清洁度5/1x0.04 L1x0.004涂层规格正面（S2）（137683）涂层规格后侧（S1）（140851）1st 工作范围HR（0°，1550nm）99.99%1st 工作范围 减反射(0°,1450-1650nm)0.2%类别 高反射率偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1550 nmHR 99.99 %类别 减反射(Anti-Reflectance)偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1450 - 1650 nm AR / HT 0.2 %2nd 工作范围 T(0°,1550nm)~0.005%类别 透射率(Transmittance)偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1550 nmT ~ 0.005 %涂层137683 低损耗反射镜für腔衰荡测量PR（0°，1550nm）99.99%温度（0°，1550nm）~50 ppm带宽（PR99,99%）~130nm精度CWL（产品误差）+/-20 nm图1计算的反射（具有典型吸收损耗，无散射光）_____理论----/……生产误差四,超光滑超高反射率(＞99.99%) 反射镜 1572nm环形激光陀螺仪组件或某些科学应用中的所谓超级镜需要具有急低损耗（即吸收和散射）的镀膜光学元件。这些反射镜还具有 R 99.998% 和总损耗 10 ppm 的最大反射率。筱晓使用德国改进的 IBS 机器，能够在超抛光基材上生产涂层。机器和环境的清洁度在专用的超净室中保持，并在此进行广泛的基材预处理和后处理。用于检查程序的测量设备，例如白光轮廓仪和高分辨率显微镜（高达 x 1000）已经到位。定制的腔衰荡设置允许以最多四位小数的精度确定反射并参考损耗。超光滑超高反射率(＞99.99%) 反射镜 1572nm,超光滑超高反射率(＞99.99%) 反射镜 1572nm通用参数 型号列表 波长基片材料数量直径(英寸)曲率反射率入射角光楔PN #2327Infrasil 30270.5"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-126-49-23272004Infrasil 30231.0"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-246-49-20042050Infrasil 30210.5"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-126-49-20501742Infrasil 30250.5"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-126-49-17421650Corning 798050.5"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-126-49-16501600Corning 798090.5"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-126-49-16001550Corning 7980100.5"1m ROC99.99%0NoneCRD-126-49-15501550Corning 798021.0"1m ROC99.99%0NoneCRD-246-49-15501512Corning 798020.5"1m ROC99.99%0NoneCRD-126-49-15121434Infrasil 30211.0"1m ROC99.99%0NoneCRD-246-49-14340760Corning 798010.5"1m ROC  99.995  %0NoneCRD-126-49-07600760Corning 798041.0"1m ROC  99.995  %0NoneCRD-126-49-07601392Corning 798010.5"1m ROC  99.99  %030ʹ CRD-126-49-13920633Corning 798011.0"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-246-49-06331064Corning 798011.0"1m ROC  99.99  %0NoneCRD-246-49-1064 技术参数位于耶拿的弗劳恩霍夫应用光学和精密工程研究所测量了我们当前生产的 633 nm 超级镜的总背散射（TSB，如 ISO 13696 中所述），并达到了 TSB = 1.1 ppm 的值。 15 ppm 的典型吸收和剩余透射率合计相当于至少 99.998% 的反射率。对于更长的波长，甚至可以达到 99.999%，这非常接近 R = 100% 的完quan激光镜。 结果已通过我们的内部腔衰荡设置和散射测量得到证实。对于上述值，使用表面粗糙度 1 &angst rms 的超抛光基板是必要的。用白光轮廓仪检查它们的质量。下面是一些测量值：Scatter TSBAbsorptionReflection CRDHR 532 nm&thinsp /&thinsp 0°4.9 ppm1) (int. ARS)10.2 ppm 2) 99.997% 2) (T~5 ppm)HR 633 nm&thinsp /&thinsp 0°1.1 ppm 1) 99.998% (T~5 ppm)HR 1064 nm&thinsp /&thinsp 0°( 1 ppm) 3) 2 ppm 4) 99.999% (T~5 ppm)HR 2940 nm&thinsp /&thinsp 0°24 ±12 ppm6)99.994% 5) (T=36 ppm)1) Measured at IOF Jena 2) Measured at LZH 3) Calculated from surface roughness 4) Measured at ILT Aachen 5) measured by customer 6) 1-R-T 特点&bull 非常高的反射率(在可见光和近红外光谱范围内R 99.99%&bull R 99.999% 在1000 – 1600 nm 之间的几个波长处得到证实)&bull 中心波长可以定制（起订量：6片）&bull 所有用于 CRD 实验的反射镜都带有背面增透膜&bull 平面和球形弯曲熔融石英基材&bull 优质抛光，RMS 粗糙度：≤ 1.5 &angst 产品应用● 激光陀螺●CRD 腔衰荡系统设计● 光通道诊断 参数材质红外级熔融石英 Infrasil形状圆形直径(Ø )12.7，25.4 mm ,50.8(-0.1 mm)厚度(t)6.35 mm (±0.1 mm)边缘厚度6.35 mm平行度5ʹ Guaranteed RoughnessFlatnessAvailabilityPremiumRMS0.2 nm*(2&angst )入/20Ø 12.7-25 mmalways 2,000 pcs.on stock(various radii and plane)superpolishedRMS0.1 nm*(1&angst )入/10on request* Tested with Zygo NewView 9000 within sample length 3- 1000 um 光学参数 正面(S2)光学参数 背面(S1)形状凹面形状平面曲率半径1,000 mm (±1 %)倒角0.3 mm (±0.1 mm)倒角0.3 mm (±0.1 mm)测试区 Ø e20测试区 Ø e20曲面容差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]曲面容差3/-(0.2) [L/10 reg. @546.1nm]清洁度5/2x0.04 L1x0.004清洁度5/2x0.04 L1x0.004 我们的测试方案：相关测试图1测量波长范围 1250 – 1450 nm 的低损耗反射镜的反射率和透射率光谱 a) 反射率与波长的关系b) 透射率与波长的关系 表 1：低损耗反射镜的反射率和透射率值；通过腔衰荡光谱测量的反射率，AOI=0°直接测量光学损失图 2：1550 nm 的低损耗反射镜的反射率、透射率和损耗光谱 a) 针对最高反射率进行了优化（透射率 ~ 0）b) 设计用于 T ≈ S + A 内部测试设备：五, LAYERTEC 低损耗超高激光反射 平面镜 1600-1700nm 反射率99.99%损耗极低的激光光学器件，对于要求极低损耗的镀膜光学器件应用, 筱晓光子可提供R 99.995 %、总损失小于10 ppm的反射镜。此类超级反射镜片可用于环形激光器陀螺仪组件或光腔衰荡应用。对超抛光基材加工低吸收、低散射镀膜时，我们会采用改进型IBS镀膜机。而为了保证清洁度，此类机器会存放在专用的超清洁室内，并且与生产相关的基材预处理和后期处理流程全部在此清洁室内完成。 此外，超清洁室内还配置有多种测量设备，如检测流程所使用的白光表面光度仪和高分辨率显微镜。利用定制光腔衰荡设置可以确定反射量（精度可达小数点后四位）以及损耗。 而测定以上数值必须使用表面粗糙度小于 1 &angst rms的超抛光基材。为了保证反射镜成品的品质，还会使用白光表面光度仪进行质量检测LAYERTEC 低损耗超高激光反射 平面镜 1600-1700nm 反射率99.99% ,LAYERTEC 低损耗超高激光反射 平面镜 1600-1700nm 反射率99.99%型号参数激光反射镜Laser Mirror:Fused silica | plane Ø =25.0mm | te=6.35mm | //5minS1: AR(0°,1600-1700nm)0.25%S2(^): HR(0°,1600-1700nm)99.99% (low loss)T(0°,1650nm)~0.002%曲线图产品特点低损耗可定制不同尺寸入射角：0deg产品应用TDLAS光腔衰荡通用参数

TORUS凹面光栅光谱仪 该光谱仪具有透光率高、杂散光更低、热稳定性好的特点，可用于液体、固体等的吸收、荧光测量。Torus 可见波段光谱仪（360nm-825nm），杂散光水平：在400nm 处，约0.015%，较平面光栅等微型光纤光谱仪更低。 平场光学设计及全息凹面光栅用于光的色散：Torus 光栅的凹面用于光的反射及汇聚；光栅刻线用于光的色散；光栅的环形设计用于像差校正，提高衍射效率。 Torus 并且具有较高的光学分辨率（1.6nm FWHM，25um 狭缝）和优良的热稳定性（在0-50℃范围内，波长漂移更小，峰型保持基本一致）。 Torus 系列光谱仪可以通过 USB 接口与计算机进行交互控制，可以根据客户需要更改狭缝、滤光片及其它配件来优化配置；也可以通过 C-mount 接口与显微镜等配合使用。与海洋光学的其它光学配件一起，使您的测量更方便，更灵活。 Torus 通过海洋光学的 Spectrasuite 光谱操作软件来进行操作与分析，并且可用于 Windows， Macintosh，及 Linux 操作平台。并且还与海洋光学的 OmniDriver，SeaBreeze 软件开发平台相兼容。尺寸149.9 mm x 119.4 mm x 63.5 mm重量954 g探测器类型Sony ILX511B光谱范围200-1100 nm像素/大小2048波长范围360-825 nm光学分辨率&le 2.0nm信噪比250:1A/D分辨率16 bits暗噪声50 RMS counts 300 counts peak to peak动态范围8.5x107 (system) 1300:1 (single acquisition)积分时间1 ms - 65 s

背景技术及优势 表面光电压是固体表面的光生伏特效应，是光致电子跃迁的结果。 1876年，W.GAdam就发现了这一光致电子跃迁现象 1948年才将这一光生伏特效应作为光谱检测技术应用于半导体材料的特征参数和表面特性研究上，这种光谱技术称为表面电压技术（Surface Photovoltaic Technique，简称SPV）或表面光电压谱（Surface Photovoltaic Spectroscopy，简称SPS）。表面光电压技术是一种研究 半导体特征参数的极佳途径，这种方法是通过对材料光致表面电压的改变进行分析来获得相关信息的。 1970年，表面光伏研究获得重大突破，美国麻省理工学院Gates教授的研究小组在用低于禁带宽度能量的光照射CdS表面时，历史性的第一次获得入射光波长与表面光电压的谱图，以此来确定表面态的能级，从而形成了表面光电压这一新的研究测试手段。 SPV技术是最灵敏的固体表面性质研究的方法之一，其特点是操作简单、再现性好、不污染样品，不破坏样品形貌，因而被广泛应用于解析光电材料光生电荷行为的研究中。 SPV技术所检测的信息主要是样品表层（一般为几十纳米）的性质，因此不受基底或本体的影响，这对光敏表面的性质及界面电子转移过程的研究显然很重要。由于表面电压技术的原理是基于检测由入射光诱导的表面电荷的变化，其检测灵敏度很高，而借助场诱导表面光电压谱技术可以用来测定半导体的导电类型（特别是有机半导体的导电类型）、半导体表面参数，研究纳米晶体材料的光电特性，了解半导体光激发电荷分离和电荷转移过程，实现半导体的谱带解释，并为研究符合体系的光敏过程和光致界面电荷转移过程提供可行性方法。 由于SPV技术的诸多优点，SPV技术得到了广泛的应用，尤其是今年来随着激光光源的应用、微弱信号检测水平的提高和计算机技术的进展，SPV技术应用的范围得到了很大的扩展。主要应用：半导体材料的光生电压性能的测试分析、可开展光催化等方面的机理研究，应用于太阳能电池、光解水制氢等方面的研究，可用于研究光生电荷的性质，如：光生电荷扩散方向；解析光生电荷属性等。主要代表材料有TiO2、ZnO、CdS、GaAs、CdTe、CdSe等。表面光电压谱的技术参数1)光电压谱测量：最小电压10nV；功能材料的光电性质，可开展光催化等方面的机理研究；2)光电流谱测量：最小电流10 pA；研究功能材料光电流性质，可应用于太阳能电池、光解水制氢等方面的研究；3)光伏相位谱分析：相检测范围：-180°至+180°；可用于研究光生电荷的性质，如：光生电荷扩散方向；解析光生电荷属性等；4)表面光电压、光电流、相位谱分析的光谱波长范围：200-1600nm，可以全光谱连续扫描，光谱分辨率0.1nm，波长准确度±0.1nm；5)可以实现任意定波长下，不同强度光照下的表面光电压、光电流、相位谱分析，实现光谱分析的多元化；6)光路设计一体化、所有光路均在暗室中或封闭光路中进行，无外界杂光干扰；7)光源配置：氙灯光源（200/300-1100nm）；卤素灯光源（400-1600nm）；氘灯光源（190-400nm）；8)氙灯光源500W，点光源（2-6mm），可以实现变焦，实现软件反控调节光的输入功率，可以实现250W-500W连续可调，USB接口控制，完成5）的测试分析；9)单色仪：出入口可平行或垂直，焦距300mm，相对孔径：F/4.8，光学结构：非对称水平Czerny-Tuner光路，光栅面积55*55mm，最小步距0.0023nm，光谱范围200-1600nm；10)配置全自动6档滤光片轮，消除各种杂散光尤其600nm,标配滤光片3片，范围185-1600nm；11)锁相放大器（斯坦福）： a.mHz-102.4kHz频率范围； b.大于100dB动态存储； c.5ppm/oC的稳定性； d.0.01度相位分辨率； e.时间常数10us-30ks； f.同步参考源信号； g.GPIB及RS232接口； h.9转25串口线； i.USB转232串口线12)斩波器（斯坦福）: a.具有电压控制输入，四位数字频率显示，十段频率控制，和两种可选工作模式的参考输出； b.4Hz—3.7kHz斩波频率； c.单光束和双光束调制； d.低相位抖动频和差频参考信号输出； e.USB转232串口线；13)专用控制软件，数据记载，数据保存，应用于表面光电压谱的数据反馈，可以反控单色仪、锁相放大器（SR810、SR830、7265、7225）、斩波器、光源，根据需求自行修改参数，可根据需求进行源数据导出；14)主要配件： a.光学导轨及滑块； b.封闭的光学光路系统； c.标准的光学暗室； d.光电压及光电流池； e.外电场调系统； f.电流-电压转换器； g.计算机（选配）； h.光学平台（选配）。 表面光电压谱的测量方法示意图（1.氙灯光源；2.单色仪；3.斩波器（斯坦福）；4.汇聚透镜；5.反射镜；6频率调制光；7锁相放大器（斯坦福）；8计算机含控制软件） SPV表面光电压谱 样品池结构及数据分析 SPC表面光电流谱 样品池结构及数据分析 Scheme of thesurface photovoltage (SPV) setup applied for the measurements on multilayered sample of CdTe and CdSe NCs. Excitons are created upon light excitation, which diffuse through the structure and may reach andbecome separated at the type II CdTe/CdSe interface. The random diffusionof separated charges creates an electric field measured as the SPV signal U by two transparent outer FTO electrodes in a capacitor arrangement.