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微电路元件可靠性试验方法液槽冲击试验箱

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检测项目微电路元件可靠性试验

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上海荣计达仪器科技有限公司

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液槽冷热冲击试验箱是用于在短时间内再现试验结果的有效试验装署。采用ESPEC共通的触掉式彩色液晶操作屏

智能文字提取功能测试中

微电路元件可靠性试验方法液槽冲击试验箱目的：确定元件暴露于高低温极值下，以及高低温极值交替冲击下所具有的抗御能力。符合标准：MIL-STD-883 推力标准试验：将试验样品置于低温箱中，此时，低温箱的温度已调至表1规定的极值温度，并在温度下按表2规定的时间进行保温。保温时间到，在5min内将试验样品从低温箱格至高温箱中，此时，高温箱的温度已调至表1规定的极值温度，并在此温度下按表2规定的时间进行保温，保温时间到，在5min内将试验样品从高温箱移至低温箱中。此时，低温箱的温度已调至4.3.1款的极值温度，并在此温度下按4.3.1款的试验时间进行保温。初的5次循环应连续地进行。5次循环后，在任何一次循环完成之后都可以中断试验。再恢复试。验之前可允许试验样品恢复到试验的标准大气条件。在测试阶段，不同的推力值会在不同的温度环境下应用于待测定的元件上，包括低温(-196°C至+85°C)和高温(-55°至+125°C)。MIL-STD-883 规定，低温部分应用的推力值为25g(0.25 ms)，峰峰值和保持时间分别为50g(1ms)和11 ms:高温部分应用的推力值为15g(0.15 ms)，峰峰值和保持时间分别为30g(0.3 ms)和6ms。此外，MTL-STD-883 规定，在完成推力测试前，还必须记录和存档测试要求，以确保能够进行正确分析和结果报告。在恢复阶段，完成推力测试之后，用干测试的微电路元件应当严格按照建立的标准进行复原活动，以保证受到的捐伤达到小值。通过 MIL-STD-883 推力标准的测试，可以溯源检测微电路元件的可靠性，同时确保微电路元件的性能，减少设备出现故障的风险，提高设备的可用性。因此，现代微电路制造厂纷纷采用 MIL-STD-883 推力标准来保证其产品的可靠性和可用性。

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