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【求助】离子阱液质全扫与选择离子扫描区别

液质联用(LCMS)

  • 各位高手,离子阱质谱的全扫和选择离子扫描灵敏度哪个高?为什么?此外,离子阱质谱在作选择离子扫描时,不管是气质还是液质,采用外源时,是只将所选择的离子捕获到阱里吗?而气质的内源是不是先都让离子进入阱内,然后让选择的离子打到检测器检测?
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  • chauchylan

    第1楼2008/04/15

    选择离子扫描你指的是跳峰测量吧...

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  • 归林之鹰

    第2楼2008/04/15


    液质联用不是很清楚。应该和气质联用差不多吧。
    选择离子扫描应该是气质中的SIM扫描,而离子肼扫描对应气质的SCAN扫描吧。
    如果是这样的话,那就是离子扫描的精确度高了。因为SCAN是大范围的扫描,而SIM只是对特定的某种离子进行扫描。
    个人意见!

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  • realtiger

    第3楼2008/04/15

    当然选择离子扫描灵敏度高啊,
    根据不同公司仪器规格的不同,目的的不同,有如下几种扫描方式:

    增强全扫描 (EMS):增加离子的利用率,便于微量分析

    增强子离子扫描 (EPI):增加离子的利用率,便于微量分析

    增强分辨率扫描 (ER):准确确定离子的电荷状态

    母离子扫描 (PR):有效确定子离子和母离子间的关系,对化合物筛选、分类,有利于定性和断裂机理分析

    中性丢失扫描 (NL) 有效确定子离子和母离子间的关系,对化合物筛选、分类,有利于定性和断裂机理分析

    增强多电荷扫描 (EMC),有效降低噪音水平,提高信噪比

    时间延迟碎裂扫描 (TDF):简化图谱,有利于图谱解析

    多极串联质谱功能 (MS3, add in-source dissociation, actually
    MS4):结构信息丰富

    选择离子扫描 (SIM):用于经典的LC/MS定量分析

    选择反应监测扫描 (SRM):用于经典的LC/MS/MS定量分析

    多反应监测扫描 (MRM):可同时检测300对离子,用于样品中多组分的同时、快速、高通量定量分析

    混合扫描 (Mixed Scan Mode):一次进样完成上述所有扫描模式,获得更多信息

    正/负离子快速切换扫描 (切换时间<700ms ):便于进行化合物筛选和结构分析

    在两个前后串联在一起的质谱/ 质谱仪中, 前级质谱主要用于担任分离工作,在样品被电离后, 它只允许被分析的目标化合物的母代离子碎片通过, 经过碰撞裂解后, 由第二级质谱分析裂解后产生的离子碎片。由于上述过程的完成至少需要三个质量分离器串联而成, 故在大型质谱仪上应用串联质谱技术成本较高,而且操作比较复杂, 从而限制了该技术的广泛应用。随着离子阱质谱仪的发展, 利用其可实现时间串联的特性, 即串联质谱的每个阶段在不同时间段进行, 使用同一个离子阱质量分离装置就可以完成串联质谱的分析, 甚至可以进行多级质谱的分析,

    离子阱检测器(ion trap detector)
    原理类似于四极分析器,但让离子贮存于井中,通过改变电极电压,人为使需要的离子向上、下两端运动,通过底端小孔进入检测器。
    质谱仪在进行串联质谱操作时包含以下基本步骤:
    1) 电离被分析物,使其产生碎片离子
    2) 自碎片中筛选并储存母离子
    3) 激化母离子使其产生子离子
    4) 收集子离子质谱
    离子阱质谱仪将上述步骤在相同的空间中循序完成。

    补充:总离子流色谱法(total ionization chromatography,TIC)—— 用于定量。反复扫描法(repetitive scanning method,RSM)——按一定间隔时间反复扫描,自动测量、运算,制得各个组分的质谱图,可进行定性。质量色谱法(mass chromatography,MC)——记录具有某质荷比的离子强度随时间变化图谱。在选定的质量范围内,任何一个质量数都有与总离子流色谱图相似的质量色谱图。

    选择性离子监测(selected ion monitoring,SIM)—— 对选定的某个或数个特征质量峰进行单离子或多离子检测,获得这些离子流强度随时间的变化曲线。其检测灵敏度较总离子流检测高2-3个数量级—(针对气质来说)。

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  • wbp

    第4楼2008/04/16

    离子阱质谱选择离子扫描灵敏度高,因为离子阱就是累积离子的过程,累积单个离子必然提高灵敏度。离子阱是把离子放入阱中后,稳定累积特定离子,然后导出检测。四极杆才是先选择离子。气质基本没有离子阱。GC-MS中的MS 99% 都是单四极杆。

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  • 园觉

    第5楼2008/04/20

    一、离子阱质谱每次扫描是由多个微扫组成,一般来说,当扫描时间固定的话,选择离子扫描比全扫的微扫次数多,因此灵敏度高,大多数分析都是这样做的;另外理论上,一次微扫的选择离子扫描与全扫灵敏度应该完全相同。
    二、外源离子阱质谱在作选择离子扫描时,不管是气质还是液质,是将所有的离子捕获到阱里的!
    三、而气质的内源是中性分子进入阱内离子化的,然后选择的离子打到检测器检测,未选择的离子抛出阱外。
    以上不妥之处,请指教?

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  • gentlehorse

    第6楼2008/04/22

    离子阱质谱全扫描与选择离子检测的灵敏度差别并不是很大,因为他们都是将所有的粒子都放到阱里面,然后再从阱里挑出离子的。因此离子阱质谱很少通过做SIM来提高灵敏度,要提高灵敏度一般是通过作MS/MS(或MSn)。
    以上解释对内置离子源或外置离子源的离子阱质谱都是适用的。

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  • ytgyg

    第7楼2008/05/08

    个人认为SIM的灵敏度高,因为选择离子扫描只针对选定的离子,捕捉到的几率和次数也就更多,灵敏度自然就高了。
    离子阱的SIM扫描是指让选定离子在阱里做一段时间的停留,而非选定离子则会撞到阱壁而消逝。然后再加一个合适的电压将离子引出到检测器检测。所以本人认为是将所有离子进入阱内,然后选择

    lychx77 发表:各位高手,离子阱质谱的全扫和选择离子扫描灵敏度哪个高?为什么?此外,离子阱质谱在作选择离子扫描时,不管是气质还是液质,采用外源时,是只将所选择的离子捕获到阱里吗?而气质的内源是不是先都让离子进入阱内,然后让选择的离子打到检测器检测?

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  • liukai8806

    第8楼2008/05/08

    离子阱质谱的全扫和选择离子扫描灵敏度是一样的。因为离子阱是将所有的离子储存在阱里,然后将不要的离子去掉的,并没有提高选择离子的灵敏度。
    四级杆选择离子扫描灵敏度比全扫高。四级杆只扫描选择离子,选择离子扫描时有更多的扫描时间,所有灵敏度会变高。
    离子阱质谱在作选择离子扫描时,不管是气质还是液质,采用外源时,是将所有的离子都捕获到阱里。离子源有一个gate,提供电压差,将离子都送到阱中。然后根据环电极和端盖电极形成的四级电场来控制离子的运动轨迹。
    气质的内源是样品直接进到阱里,在阱里离子化。而外源,是先离子化了,再进入阱里。

    lychx77 发表:各位高手,离子阱质谱的全扫和选择离子扫描灵敏度哪个高?为什么?此外,离子阱质谱在作选择离子扫描时,不管是气质还是液质,采用外源时,是只将所选择的离子捕获到阱里吗?而气质的内源是不是先都让离子进入阱内,然后让选择的离子打到检测器检测?

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  • tyforever

    第9楼2008/05/09

    不知道应该相信哪位高手的了,^_^

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