【讨论】请问有谁知道AFM可以测量阻抗么？

理论上使用AFM是不可能测量本征表面阻抗的大小，因为两个关键问题：1、针尖和表面的contact总会产生难以预计甚至难以重复的阻抗；2、样品形貌，通常非但不是原子级平整，而且难以预计，形貌带来的寄生电容将严重干扰阻抗衬度理论的建模。其他还有接地和屏蔽的问题也值得探讨，不过，表面阻抗的近似测量甚至mapping的实现问题不大。但一定要清楚，这里的阻抗只是表观的阻抗，和本征阻抗差的很远。只能用作参考，不能用来作为说事的关键证据。要知道光是简单材料的阻抗分析目前在contact上仍然争议很大，何况是AFM的contact。
国内浙大的章海军教授和中山大学丁喜冬做过一些勇敢的探索。
这里给一份专利，从这个专利你可以看到基本测量原理的图像。详细的你可以用以上两个人去google或ei或isi去。

介电损耗扫描探针显微镜专利说明.pdf

非常感谢楼上的回复！是不是可以说目前，要利用AFM测量纳米材料的阻抗，还很困难？