【讨论】如何应用XRD数据分析颗粒形状？

原则上，XRD给出的最精确的信息是晶面间距信息，其他的信息并不能提供直接的定量证据。用XRD研究形状我没见过……

当然，如果楼主坚信自己的idea，并且xrd测量形状有潜在的独特的重要性，不妨做下去，开辟XRD定量分析的新领域，尽管可能性极小，there is a will, there is a way。到时候还请楼主指教。

通过XRD的2theta角对应每个衍射峰半高宽计算的是所对应衍射面方向的平均晶粒大小，不同的衍射角度对应衍射峰半高宽度所对应晶面厚度，通过这些是可以展示晶粒在各个晶向生长的方向，以及最后形成的大致形状，但这只是一平均值。而我们在电镜中看到的大多是颗粒，而不是晶粒，颗粒一般是由许多晶粒组成的。

感谢楼上的两位参与讨论，我也只是从XRD衍射半高宽与晶面间距的关系上推测的。
希望楼上的朋友们能够提供几篇相关的参考文献。
谢谢。

应该是可能并且可以的。借助软件通过各个面间距等数据，是可以描绘出粉末晶体的大致形状的。当然，这是统计值，只能做个参考。

确实有人做过这样的事情。因为谢乐公式中的D（晶块尺寸）本来是md。d是测量方向的面间距，m表示的是这个晶向上单胞的层数。因此，如果通过测量分别计算了多个晶面的尺寸，那么可以推测出晶粒的形状，还可以推测出某方向上堆砌的层数。
有兴趣的话，可以看看我的日志：
http://406089079.qzone.qq.com
有谈到谢乐公式。