【求助】关于FFT，大家帮我看看！谢谢

帮你把图贴出来吧，这样大家看起来方便一些。

“为什么我做FFT的时候得到的晶格条纹和TEM基本是一样的”，不明白你说的意思，高分辨像Fourier变换以后得到的是和电子衍射花样几何形状类似的Fourier变换谱，你说的和“TEM基本一样”是什么样子？
选择b图上四个圆圈套住的斑点作IFFT就会得到c图，可能为了美观和排版方便，作者把反Fourier变换以后的图像又旋转了一下。
另外，b图中间有一条竖线，这条线是标尺的FFT，并不反映样品的结构。

首先谢谢您的解答。
我们做了傅里叶变换后再做逆傅里叶变换得到的一张图一般情况下看起来和原图是差不多的，就是说c图应该是和a图差不多的。我基本肯定的是c图没有旋转，那很多的T排的一行就是界面。我记得在哪看到过，在将a傅里叶变换后，如果再通过什么处理，选择和原来不同的晶带轴做逆傅里叶变换（当然肯定要利用傅里叶变换后的结果），就可以得到c图。您可以在c中看到那一个T就是一个位错，但是在a中却看不到。其实我想问的就是如何利用a看位错。

FFT就是对二维图像的强度信息做的一种数学运算，跟晶体学完全无关，所以是不可能“选用另一个带轴”的。得到条纹图的方法很简单，只要在FFT中用合适的蒙板套住一组斑点，把其它的都去除，然后反变换就可以了。具体操作参看DigitalMicrograph的使用手册，里面有专门一章讲傅氏变换相关的图像处理。
对于图C的结果，我认为非常不可信。原图衬度复杂，变化剧烈，里面可以看到欠焦和厚度造成的影响。图片分辨率也不是很高，有些位置取向不正。这样的图片里很容易出现条纹的衬度反转，但那并不说明在反转位置晶面的实际位置发生了变化。利用高分辨像观察位错，成像要求比较高，至少也要有清晰的二维晶格像，并且样品厚度基本一致。简短说，如果位错存在，在原来的高分辨像中就应该能看到，靠过滤看到的“位错”，不见得是真的。如果非要用这种方法，操作就是开始说的，对FFT使用蒙板，然后反变换。

谢谢两位斑竹的回答，非常感谢。看来我得仔细看看。

d图中的位错是怎样显示出来的？请教高手！谢谢！

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