X射线荧光光谱仪（XRF）
chemchenxj
第1楼2009/11/29
你说的理学r-θ样品台应该是用于元素分布分析的r-θ定位机构理学的r-θ定位机构除了可以使样品按30rpm 的速度旋转外，还可以在使用小直径视野光栏时将样品移动到X射线辐照强度最高的测量位置。因此，当系统配备点分析和样品观测功能时，可以分析样品上的任意小位置，并可对整个样品进行分布分析测量。这里的θ不是指测角仪里的角度，而是样品图像中某一点到中心的连线与标记线的夹角，r是距离样品中心的距离，用r-θ法可以指定测量位置，当然也可以用X-Y法来指定。
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