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【讨论】大家用荧光测F都是用些什么条件呀,准不准呀?

X射线荧光光谱仪(XRF)

  • 我们的机(ARL9900)用30KV,80MA,计数1min,测连铸渣建F的检量线,测出来十分的差,不知大家有没有好的见解



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  • ljzllj

    第1楼2009/05/01

    30KV 80mA测F应该可以了呀。
    对轻元素来说,你的样品的制备情况就显得更加重要了。
    你的样品是金属固体,表面的平滑度对轻元素的影响也很大,像F,C这种轻元素,它们的强度都是在样品表面测得的。
    因此建议你能把样品处理的更好点。

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  • 蓝侧卫

    第2楼2009/05/03

    你们测F条件大概怎么设,样品是处理要很小心吗?

    ljzllj 发表:30KV 80mA测F应该可以了呀。
    对轻元素来说,你的样品的制备情况就显得更加重要了。
    你的样品是金属固体,表面的平滑度对轻元素的影响也很大,像F,C这种轻元素,它们的强度都是在样品表面测得的。
    因此建议你能把样品处理的更好点。

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  • ljzllj

    第3楼2009/05/03

    可以参考下UniQuant里的条件呀,30KV,80mA可以了

    zghkmj 发表:你们测F条件大概怎么设,样品是处理要很小心吗?

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  • ayaku

    第4楼2009/05/03

    应该是用的熔片制样法吧,F的测量强度太低了,是造成误差大的原因。若用熔片法,应尽可能的选用较低的温度、熔融时间及稀释比,用较大的激发电流来测量。

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  • 蓝侧卫

    第5楼2009/05/13

    温度的高低对F的熔片有影响吗? F会被挥发吗?

    ayaku 发表:应该是用的熔片制样法吧,F的测量强度太低了,是造成误差大的原因。若用熔片法,应尽可能的选用较低的温度、熔融时间及稀释比,用较大的激发电流来测量。

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  • ayaku

    第6楼2009/05/15

    熔融过程是复杂的,机理很难说清楚。F的挥发问题争议是很大的。卤族元素不熔于硼酸盐,对分析表面来说,制样要求还是很高的。

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