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【求助】薄膜透射率测量

紫外可见分光光度计(UV)

  • 测试薄膜的透射率是怎么测量的?
    用分光光度计测试的透射率包含基体的透射率吗?我在不同的实验室做薄膜透射率时,有的老师告诉我可以在参比池放一个空白的基板作参考,这样可以测出透射率为薄膜的透射率,有的老师告诉我不可以这样做,因为对于高反膜这样的后果是薄膜的透射率将高于1。我想问一下大家是怎么测试薄膜的透射率的!
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  • tutm

    第1楼2009/05/18

    可能你做的课题是薄膜表面镀层试验,需要测试试样的透射率。

    如果你想测的是整个薄膜的透射率(包括基体材料的作用),那应该按第二位老师的方法做。

    如果你想测的是表面镀层对透射率变化的贡献(扣除了基体材料的影响),那可以按第一位老师的方法做。

    但是建议你可以将两种方法结合起来,即分别用两种方法测试,它们两者可以更全面地说明镀层的作用,以及整体效果。

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  • tony81

    第2楼2009/05/18

    如果样品反射很高 其实按照1做是对的
    只是对仪器的要求比较高 测试光路要尽可能长的 这样反射的干扰会比较小
    可以选择样品室两侧都是凸透镜的机器 或者两侧的保护片有点倾斜的机子

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  • auto1235

    第3楼2009/05/18

    luckywk 发表:测试薄膜的透射率是怎么测量的?
    用分光光度计测试的透射率包含基体的透射率吗?我在不同的实验室做薄膜透射率时,有的老师告诉我可以在参比池放一个空白的基板作参考,这样可以测出透射率为薄膜的透射率,

    为什么在校零时不放上基板?

    有的老师告诉我不可以这样做,因为对于高反膜这样的后果是薄膜的透射率将高于1。我想问一下大家是怎么测试薄膜的透射率的!

    这种很复杂,需要把每个面的透射、反射、吸收然后再统一换算。

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  • luckywk

    第4楼2009/05/18

    谢谢你的回复,懂了一些。但是还是有一些不懂,这里所谓的贡献和薄膜的透射率是不是一样呢?

    tutm 发表:可能你做的课题是薄膜表面镀层试验,需要测试试样的透射率。

    如果你想测的是整个薄膜的透射率(包括基体材料的作用),那应该按第二位老师的方法做。

    如果你想测的是表面镀层对透射率变化的贡献(扣除了基体材料的影响),那可以按第一位老师的方法做。

    但是建议你可以将两种方法结合起来,即分别用两种方法测试,它们两者可以更全面地说明镀层的作用,以及整体效果。

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  • tutm

    第5楼2009/05/18

    哦,对不起!我重新看了你的问题,你使用的好像是双光束仪器,那我1楼所说的不适用了,我还以为你用的是单光束仪器呢!

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  • tutm

    第6楼2009/05/18

    2楼、3楼朋友的意见是有道理的。

    一般薄膜透射率就是入射光强度与透射光强度之比,参比为空气就可以了。

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  • tutm

    第7楼2009/05/18

    如果你的基体反射率很高,参比池只是空气,那光线检测器会处于光线强度相差极大的交替状态下工作。这可能会影响检测准确性,第一位老师的方法可能是考虑到了这一点,就象2楼tony81先生说的。
    但是,可能基体参比和样品的反射光可能会相互干扰,也会影响你的测试,不过这时可以采取一些临时措施,比如在测试室的样品和参比之间放入一块高吸光的黑色挡光板,表面覆上黑色棉绒布之类,尽可能阻隔样品和参比之间反射光的干扰。tony81先生建议的要求比较高,可能你较难实现。

    另外,如果按第一位老师方法,那应该按3楼auto1235先生提示的,在储存基线(校零)时就在样品和参比位置都放上基体。

    综合我6楼回贴的意思是:一般薄膜样品可以按第二位老师的方法做,这样简单些;但是如果是很高反射性能的薄膜建议按第一位老师的方法做,可以减少检测不准情况。

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  • fragr

    第8楼2009/05/18

    如果是透射率,结果是去除反射和吸收后的透过光线的强度。

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  • tony81

    第9楼2009/05/18

    我测试过反射率很高的东西
    关键的问题在于 光度计本身的器件也会有反射
    做个最简单的比喻

    光透过样品后 照射到后面的接受器 接收器一般都有个平面保护片或则凸透镜
    这时候问题就来了 保护片或者透镜本身也会有反射 光照上去之后 会再次反射到样品上 然后再次反射到接收器 就会引起误差

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  • luckywk

    第10楼2009/05/18

    谢谢你这么认真的回答,按照你的解释我应该是按照不给参比池放试样作透射测试,但是做基线的时候放上空白的基体!

    tutm 发表:如果你的基体反射率很高,参比池只是空气,那光线检测器会处于光线强度相差极大的交替状态下工作。这可能会影响检测准确性,第一位老师的方法可能是考虑到了这一点,就象2楼tony81先生说的。
    但是,可能基体参比和样品的反射光可能会相互干扰,也会影响你的测试,不过这时可以采取一些临时措施,比如在测试室的样品和参比之间放入一块高吸光的黑色挡光板,表面覆上黑色棉绒布之类,尽可能阻隔样品和参比之间反射光的干扰。tony81先生建议的要求比较高,可能你较难实现。

    另外,如果按第一位老师方法,那应该按3楼auto1235先生提示的,在储存基线(校零)时就在样品和参比位置都放上基体。

    综合我6楼回贴的意思是:一般薄膜样品可以按第二位老师的方法做,这样简单些;但是如果是很高反射性能的薄膜建议按第一位老师的方法做,可以减少检测不准情况。

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