创业者
第6楼2009/06/24
垂直观测模式其实还是要看入射狭缝的高度
对于中阶梯全谱直读的ICP而言,由于其原理是二级分光(对能量而不是波长进行测试),因此其光栅相对而言刻线少,面积小,因此采用比较高的狭缝,带来的杂散光以及背景的增加是很难消除的,因此对于中阶梯全谱的仪器,狭缝一般都是孔状设计,这也就是为什么垂直观测没有水平观测好的原因了.
而对于扫描型,由于采用的是较大面积的全息光栅,刻线在2400+以上的设计(有较强的能力去出杂散光以及拉低背景),因此其狭缝设计往往是几毫米高的入射狭缝,而不是孔,其狭缝高度参考的是等离子体焰心的观测高度.因此其垂直观测和水平观测实际检出限差别没有孔状设计那么明显,而垂直观测的优势(比如抗复杂基体,比如可以同时内标)又很明显,因此扫描型的仪器,一般都不会采用水平观测这种方式.
因此,并不是简单的稀土适合垂直观测,这个其实已经和垂直观测没有太大的关系了,稀土的检测实际上更适合用扫描型去做,全谱的ICP从光栅特性(如闪耀角决定分辨率的位置,如分辨率越高强度越弱)来讲,不太适合测定稀土,不管是垂直还是水平观测.