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【求助】求助扫描声学显微镜购买事宜

扫描电镜(SEM/EDS)

  • 由于最近发现采购的集成电路有大量分层现象,所以想购买一台扫描声学显微镜,主要用于器件的前期筛选,以及对安装在电路板上集成电路的进行失效定位,失效分析等。
    想买一款实惠型的,最好价格不是很贵的,请各位大侠帮忙推荐一下吧。
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  • guolieyang

    第1楼2009/07/16

    SOI (silicon-on-Insulator)材料内部缺陷的剖面电声像

    图片
    图(A)是二次电子像,仅看到了Si材料(a)已脱离陶瓷衬底。
    图 (B)是图(A)中X-X’剖面二次电子像。
    图(C)是电声像,左上角显示了Si材料下面的缺陷以及Si材料分层区域附近的应力分布。
    图(C) 、(D)、(E)、(F) 是不同深度的缺陷和应力的电声像。
    SEAM — 是一种新型无损分析材料介观特性的显微分层成像技术

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  • wangsheng16

    第2楼2009/07/16

    我知道两家,Sonoscan,还有一家是Sonix.不过也不便宜...

    leannsj 发表:由于最近发现采购的集成电路有大量分层现象,所以想购买一台扫描声学显微镜,主要用于器件的前期筛选,以及对安装在电路板上集成电路的进行失效定位,失效分析等。
    想买一款实惠型的,最好价格不是很贵的,请各位大侠帮忙推荐一下吧。

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  • leannsj

    第3楼2009/07/16

    那大概多少钱呢?几十万能搞得定吗?

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  • wangsheng16

    第4楼2009/07/16



    这是前年作预算的时候弄的,报价也有,您自己估摸着看吧,应该还有其他家的C-SAM的.

    leannsj 发表:那大概多少钱呢?几十万能搞得定吗?

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  • szwkk3

    第5楼2009/07/16

    我司总代理KSI超声波扫描显微镜(扫描频率最高可以达到2G)世界上性能最先进的机器. 其主要是针对半导体器件 ,芯片,材料内部的失效分析.其可以检查到:1.材料内部的晶格结构,杂质颗粒.夹杂物.沉淀物.2. 内部裂纹. 3.分层缺陷.4.空洞,气泡,空隙

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  • dai_xg

    第7楼2009/07/29

    我原来这这个设备现在不做了,如果需要我帮忙的话,可以推荐你几家对比,会让你满意

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  • 声学显微镜

    第8楼2012/11/03

    1)你是要看IC或其它电子器件的分层缺陷,那么用扫描声学显微镜,没错!

    2)你主要目的是作器件筛选的,那么这台设备必须是工业级的,也就是说它的工作扫描速度指标必须很高,现在最新型的机型能达到2米/秒。这样,才能做出效率来!目前我所知道的是德国KSI的最新型机器v-400E能达到,而且必须是2011年后出厂的。据说以前的机器也只有1.5米/秒;美国索纳斯勘的机器资料上说也能达到,不过我见过的是早期的机器D9500,Speed是1米/秒的;另一家Sonix的机器一般是属于低速扫描系统,不建议。

    3)你没有说明你的样品是哪种封装?譬如说,BGA,DIP,Flip-chip等(如果不了解,你可以参考一下百度文库的链接,学习一下),这些器件的封装形式决定你这台声学显微镜设备所配置的探头频率这里有个规律,频率越高的探头,那么它的售价也越贵。象BGA/Flip-chip这种器件,那么它必须用频率较高的探头,一般是150MHz以上~230MHz,DIP则可以频率低一些,一般都是50M以下;50M以上价位可能是1万多点美金,而150MHz以上探头,价位要到了4、5万美金,相差很大。所以你的器件决定你所用到探头,也直接与你要求的价位相关了;

    4)不知道你说的几十万预算,币别是人民币还是美金,一般来说这种工业级的扫描声学机器,要达到几十万美金,如果探头配置比较齐全的话(再包括透射工作模组),价格就更高了。这些机器一般都是进口的,所以价格不便宜。国产的机器,还没研发出来,这里面有很大的技术障碍,一方面是高速平稳扫描系统无法做到,另一个原因是扫描声学成像软件的算法,与德国等国外进口的机器配置的差得太远!

    总之一句话,好机器,它可能另一个意思是“好”价格!

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