zhiluxinwu
第2楼2009/07/20
感谢drizzlemiao回复
不好意思,首次求助,没讲清楚,呵呵,是这样的:
[1] 将晶格条纹图像采用FFT变换以后,得到FFT图像,所得到FFT的标尺可由edit
add scal maker显示,单位为1/nm,那么为求的晶面间距,所以量的两衍射斑
点之间距离. 根据标尺长度/电子尺测得值与所测R值/电子尺测得值之间比
例关系,求得相对于标尺的R值(单位1/nm).不知是否是这样求得? 然后根据
d = L*电子波长/R 求出晶面间距.
不知另外异种想法对不? 采用FFT变换后,再反过来做inverse FFT,得到
晶格条纹像,当然这要比原来的晶格条纹清楚,量出晶格间距.二者进行比较
[2] 另外还想请教您一个问题: 晶面角度测量如何实现? 如附件,
自己加标尺的图像导出时往往没有标尺,不知该如何导出?
初学,还请不吝赐教!
再次表示感谢!