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【讨论】有关方法检出限，不知道这样对不对...

ICP-MS

  • 用的安捷伦7500cs，最近需要做一些元素的方法检出限，我们在数据的采集处理上采用了一下方法：
    1、与样品同时做方法空白，上机采集数据，将数据采集次数由平常的3次增加为12至15次，空白零点做完后，加入一定浓度的标液，再次采集。
    2、在软件中，将数据处理模式设为外标法模式，然后加载空白零点和加标点的数据文件，可以直接得到该方法空白的加标曲线、DL和BEC。

    不知道用这样的方法来直接确定方法检出限（DL）是否妥当？
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    +关注 私聊

  • lilongfei14

    第1楼2009/09/13

    方法检出限不是3-5倍的仪器检出限吗？

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  • jiang51

    第12楼2009/09/14

    非常感谢，急需积分，抱歉下

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  • yzyxq

    第13楼2009/09/14

    这个还是仪器的检出限，不是方法的检出限。

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  • nps

    第14楼2009/09/14

    能具体说说吗？

    yzyxq 发表:这个还是仪器的检出限，不是方法的检出限。

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  • hujiangtao

    第15楼2009/09/16

    应助达人

    这个就是方法检出限吧

    yzyxq 发表:这个还是仪器的检出限，不是方法的检出限。

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  • yzyxq

    第16楼2009/09/17

    可能你的具体过程没有说清楚。做样品空白做几个？不是在仪器上测量几次。

    如果做几个和样品处理过程一样的样品空白，上机测量，那是方法的检出限。
    做一个样品空白在仪器上测几次，那就不是方法的检出限。

    nps 发表:能具体说说吗？

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