【求助】请大家帮忙给解释一下，谢谢了

请问你在测单晶硅片的透过时，背景是怎样采集的？
在测沉积有薄膜的硅片的透过时，背景又是如何采集的？

另外，你主要是想看1微米厚薄膜本身的透过呢，还是想看沉积了薄膜之后硅片的透过率？

我觉得楼主的问题也说的不是很清楚，详细说明一下看看

没有采集背景，直接放到傅里叶红外仪里面去测的，本来是打算用衬底做背景，后来觉的不太直观，我就是要看沉积了薄膜后对衬底红外波段透过性的影响，不知这次说清楚没，我不太懂这方面

从测量数据来看，测量过程应该没什么问题。因为SI的透射数据一般在53%附近。

镀膜后，可能会增透，因此超过本底并没有什么问题。（有一种80%透射比样品就是利用SI镀膜制成）

没错，关于Si我以前专门请教过镀膜的一个朋友。