X射线荧光光谱仪(XRF)
glenjohnson
第1楼2010/02/09
如果FP法的结果最终会归一,那么是否可以这样认为:样品离检测器的距离与分析结果没有必然关系?(保持足够的灵敏度)
第2楼2010/03/02
没有人解答啊?
X荧光
第3楼2010/08/17
对于指定的仪器,分析一个已知各元素含量的样品,我们可以通过理论计算的方法,计算出该样品各元素的荧光强度。当然,由于这个计算过程比较复杂,有些参数难于获得,也可以通过少量的标样对这个计算过程进行校正,同样可以获得理论荧光强度。而所谓FP法,就是这个理论荧光强度计算方法的逆计算过程。我们先获得的实测荧光强度,通过反复迭代来计算得到样品各元素含量,这就是基本参数法。理论荧光强度计算的准确性,是基本参数法准确性的前提。
shujun0121
第4楼2010/08/17
我认为测量标样和未知样时,二者的测量条件一致就可以。
markon_yan
第5楼2010/08/23
[quote]原文由 glenjohnson(glenjohnson) 发表:如果FP法的结果最终会归一,那么是否可以这样认为:样品离检测器的距离与分析结果没有必然关系?(保持足够的灵敏度)[/quoq强度和距离的平方成反比啊,大哥,您看有关系么,按你这么说,样品放你家里可以么.开玩笑啊.是有关系的.
第6楼2010/09/02
大哥,你这不是抬杠吗?人家说要保持足够的灵敏度,你那放家里还能有强度吗?
第7楼2012/05/30
我也是这么认为,但对于完全没有任何标样校正的FP法呢?
zhangjiancn
第8楼2012/05/31
FP法是所谓的理论影响系数法,其特点是应用范围广,不需要或少需要标准样品,具有普遍性;但对于某些样品,分析误差大,略逊于经验系数法。
专注仪器
第9楼2012/07/08
FP法的英文全称为fundamental parameter method,中文意思是基本参数法,是XRF上用的一种基体校正方法。基本参数法是应用荧光X射线强度理论计算公式及原级X射线的光谱强度分布、质量吸收系数、荧光产额、吸收限跃迁因子和谱线分数等基本物理常数,通过复杂的数学运算,把测量强度转换为元素含量的一种数学校正方法。基于少量标样的基本参数法,最终结果也可以达到很高的准确性;甚至不用标样也可以进行计算。FP法的好坏是衡量一个仪器性能的重要依据。
品牌合作伙伴
执行举报