透射电镜(TEM)
xiaozhu124
第1楼2010/05/10
我只用过FIB不知道
husr007
第2楼2010/05/10
高能离子束容易造成样品损伤,导致制备出的样品在透射下已经不是本征状态
footballwind
第3楼2010/05/12
直观的缺点:薄区面积小啊。。。
大布口袋
第4楼2010/05/17
好的FIB样品,薄区面积并不小,而且足够做HRTEM了,当然,需要很有经验和熟练才能制备出好的FIB样品,不过离子束对样品的损伤是不可避免的,尤其是终期减薄的时候一定要用低电压,不然样品损伤会很重,尤其是金属样品,可能会被打成非晶,另外,对于金属样品来说,比如铝,用FIB制备会引入小的dislocation loop,或者stacking fault,现在专门有一批人在做FIB样品损伤这个课题的
icewine2000
第5楼2010/05/21
FIB制样最大的优势就是:1,可以在定点制样;2,较快(1小时内可做完)。FIB做出来的TEM质量都不错。FIB用30kev Ga粒子切割样品两边,最后用小流量Ga离子减薄,问题在于TEM样品两个面上有毛边,加一起大概有30nm。不过可以将FIB做好的样品拿去用Ar处理掉两面的毛边。
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