fragr
第4楼2010/10/17
瞬态荧光光谱仪主要是用于测试荧光寿命衰减曲线和时间分辨的发射谱(TRES), 测定的时间范围为100ps--10s,较短寿命需要特殊配置,较长寿命采用动态扫描来完成。最成熟和使用最多的技术是TCSPC技术,叫做时间分辨单光子计数技术;其他技术还有频域技术;也有Strobe 就是频闪技术。后面两种用的越来越少了。
荧光寿命不依赖于样品的强度,所以是绝对测量。
最新的进展是用于荧光寿命显微镜-----时间分辨的空间分辨显微镜。大约4000个点在快速扫描状态下,采用TCSPC技术,大约测试时间为2分钟。获得荧光强度成像和荧光寿命成像的结果。
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第7楼2011/05/14
技术指标:
1. *荧光寿命测量模式: TCSPC 时间相关单光子计数技术;
2. 功能:荧光衰减曲线,时间分辨发射谱,PL谱
3. *荧光寿命范围: 小于100ps-10us
4. *磷光寿命范围:1us-10s
5. 检测波长范围: 250-850nm
6. 测量对象:液体,固体,薄膜
7. 检测器部分
a) *检测器:TBX 或MCP-PMT
b) 检测器暗噪声: <20cps
c) 集成式电子;冷冻-20℃
d) 检测器TTS:<200ps
8. TCSPC电子部分
a) *最大通道数:不少于 4K
b) 每通道最大计数: >1M
c) *计时抖动: <20ps FWHM
d) 可接受外来同步速率: up to 20MHz
e) MCS模式测量范围1us-10s(83ns分辨率)
9. 光谱仪部分
a) *光谱仪狭缝:1,2,4,8,16,32nm可调
b) 波长准确度:±1nm
c) 杂散光抑制率:10e-5 or better
10. 光源:
a) 即插即用光源,无需调整光路;
b) *荧光寿命用快闪烁光源:1MHz-1kHz可调
c) *荧光寿命用快闪烁光源:波长 280nm,340nm,370nm,460nm
d) 磷光寿命用光源:波长 370nm,390nm,460nm(或外接激光器)
11. 软件拟合功能:
a) *1-5 exponentials
b) Lifetime Distribution
c) Fit to exponential series
d) Anisotropy
e) Froster-type Energy transfer
f) Yokota-Tanimoto energy transfer
g) Micellar Quenching
h) Globals
i) Batch Analysis