【作者】：Keisuke Saito, Alexander Ulyanenkov, Volkmar Grossmann, Heiko Ress, Lutz Bruegemann, Hideo Ohta, Toshiyuki Kurosawa, Sadao Ueki and Hiroshi Funakubo 【题名】：Structural Characterization of BiFeO3 Thin Films by Reciprocal Space Mapping 【期刊】：Jpn. J. Appl. Phys. 【年、卷、期、起止页码】：45 (2006) pp. 7311-7314 【全文链接】：http://jjap.ipap.jp/link?JJAP/45/7311/
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