【分享】TXRF法测定聚丙烯材料中有害元素的含量

全反射X 荧光（TXRF）分析技术最早于1971年由Yoneda 等[1] 提出，二十世纪八九十年代我国中科院高能物理所[2]、近代物理所[3，4]、中国原子能科学研究院也开展相应的研究与开发。TXRF 分析技术突出的优点是检出限低（pg、ng/mL 级以下）、用样量少（μL、ng 级）、准确度高（可用内标法）、简便、快速，而且可进行无损分析，成为一种不可替代的全新的元素分析方法。从整个分析领域看，与质谱仪中的ICP-MS 和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS 和FAAS 以及中子活化分析NAA 等方法相比较，TXRF 分析仪在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面都有着综合优势。
微波消解技术是一种新的试样消解技术，国内自1986 年首篇微波消解制样技术报告以来，近几年此方面的研究发展很快[5]，已经广泛应用于消解食品、化妆品、冶金、地质、材料等。欧盟的RoHS 指令（Restriction of Hazardous Substance）规定对电子电气产品中铅、镉、汞等有毒有害元素的限量要求，我国七部委也发布《电子信息产品污染控制管理办法》，以控制和减少电子信息产品废弃后对环境造成的污染，促进生产和销售低污染电子信息产品，保护环境和人体健康[6]。本文成功地运用微波消解- 全反射X 荧光法测定聚丙烯材料中的铅、镉、汞等有害元素的含量，方法具有快速、准确、精密度高等优点，非常适合应用于RoHS 指令有害元素的检测。

Abstract Total concentrations of Pb, Cd, Hg were determined in polypropylene material using microwave digesting-total reflection x-ray fluorescence technology. It was fast to determining the content of Pb, Cd, Hg synchronously based on principle of total reflection x-ray fluorescence technology and polypropylene material was digested with microwave. The RSD of method were less than 6% and the recovery rates were 88.0%~103.7%. The method was applied to the determination of noxious and hazardous element according to RoHS

布鲁克TXRF 18221083873

S2 PICOFOX的工作原理是基于全反射X射线荧光光谱(TXRF)。采用风冷的钼(Mo)靶X射线光管产生初级X射线，通过多层膜单色器后形成一束能量范围很窄的单色光，以非常低的角度(< 0.1?)掠射装有样品的抛光载片，并被全反射。样品中元素发出的特征荧光被能量色散型探测器检测。因为探测器与样品的距离非常近，荧光产额非常高，而空气吸收非常低。
全反射X射线荧光光谱法与常规的X射线荧光光谱法主要的区别是，在全反射荧光光谱法中采用单色光和全反射光学元件，用全反射光束激发样品荧光，并减少样品基体的吸收和散射。其优点是： 显著增强荧光产额，极大地降低背景噪音，从而拥有更高的灵敏度，可以进行微量元素分析
主要用途：用于分析液体、粉末、固体样品中常量、次量和痕量元素的快速分析，以及分析测试技术方法研究。能够迅速、准确分析从Al～U（除惰性气体及少部分元素外）的所有元素, 含量范围从1.0 ppb-100%。

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