【讨论】样品尺寸影响晶格条纹？

高分辨像出不来可能跟几个因素有关系。1。取向问题，颗粒取向不合适或者指数太高，多大的颗粒都存在这个问题；2。对于5nm一下的小颗粒，除了取向问题外，也有可能是由于支持膜上碳颗粒的影响，碳颗粒尺寸比较大影响颗粒高分辨像的观察；3。大于30nm颗粒，我觉得应该还可以，不算太大，如果是球状的颗粒，至少应该可以观察到颗粒边缘高分辨像。
PS：做小颗粒的高分辨像不需要转带轴，如果颗粒比较多，瞎碰就行，瞎猫总能碰到死耗了，当然碰到好的高分辨像的几率要比这个高多了。

谢谢您的答复，仔细阅读了你的帖子，感觉好像不是取向的问题。也不是支持膜问题，因为我是在微栅的空白处观察的。
同时，5nm左右的怎么“碰”也没有碰到，10nm左右的很容易就看见了

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5nm的结晶性有问题？

没有，据样品所有者讲，XRD有峰

以前拍过的一个小颗粒，好像金的，也就是5nm左右，在2011UHR上拍得，很容易找。

xrd得到的是整体的平均数据 不能说明单个颗粒的结晶状况 先对单颗粒电子衍射吧...你确定你用的是微栅？微栅一般不用于做小颗粒样品 因为它们会从孔洞里掉下去。超薄看上去和微栅比较像 一般看小颗粒用超薄...

上照片吧 这么讨论太模糊了

5nm的小颗粒单颗粒做电子衍射也许也不太好做 但是30nm的肯定没问题

觉得你说的比较有道理，照片在电镜室，下周发过来。
有一事不明，你的意思是不是即使XRD有锋，电镜照片也不一定能找到晶格条纹