X射线荧光光谱仪(XRF)
第1楼2005/12/22
我觉得主要是烧损和表面.
第2楼2005/12/22
温度呢?熔融时的温度对结果的影响有多少?
第3楼2005/12/22
样品冷却越迅速,影响越大。
第4楼2005/12/23
哥们,能定量么?请教,有没有这方面的文章?嘿嘿.我只知道,不均匀的冷却,会出现晶斑.
第5楼2005/12/23
我觉得样品的预氧化对准确度(对S和AS)的影响也很大,还有试样的组成情况对全铁影响也不小
第6楼2005/12/24
冷却速度也有影响?好像大家都是用压缩空气冷却的吧,如果要放慢冷却速度,只能在空气中自然冷却了,但这样好像容易出现玻璃片破裂吧!
第7楼2005/12/24
预氧化除了对S和AS影响大外,对其它元素呢?比如Fe、Al等?
第8楼2005/12/24
当前主流XRF综合稳定度均优于0.1%。因此XRF分析误差主要由样品所引起,更确切地说,是由于制样产生的样品高度误差以及样品定位误差所引起。有关实验表明,采用铂/金坩埚铸型的自动熔样机制备的玻璃熔片,表面曲率的变化导致的样品定位误差可高达100微米。有些粉末压片后分析表面可能因膨胀而出现弯曲(例如含高硅的样品),富含碳酸钙的样品有时也可能发生弯曲。近来,一些XRF主力厂商纷纷将其新品由上照射方式改为下照射方式,一是简化XRF结构,更重要的考虑则是减小样品定位误差。
第9楼2005/12/25
可是我看到有不少企业用熔融法代替化学分析呢,其检测出的结果完全能满足国家标准中对误差的要求,甚至比化学分析做的还要准确、稳定性也好!
第10楼2005/12/25
同意。前面提到的是进一步提高XRF分析精度时所遇到的问题。
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