关于样品漂移

我们的肯定不行，因为在高倍的时候低频振动太明显了，只好利用抓拍，为什么要测这个呢？是不是抓拍的效果不好，影响晶格的分辨？

最近在做出射波函数重构的工作，要求有系列焦点的20张高分辨像，而且相邻两张图像之间的漂移不能超过0.3nm。做了好多实验，可是漂移量还是达不到要求，就差这一点了，

手动调节像位置，每次都依据特殊点来确定像位置不行吗？每个图都是有坐标的，把设定的特殊点找准了，还是能控制不超过一个晶格间距的吧？

照相的整个过程中不能调整样品位置，让CCD自己在那儿拍，利用拍两张像之间的时间间隔来调整离焦值。

手动调节为什么不行呢？你是拍分子筛？low dose模式拍摄的？那倒是只能这样。

还做分子筛，真难搞！我没用电镜提供的low dose模式，所有的条件都是我自己控制的。

分子筛是目前碰到最难拍的样品之一了，那么只能通过长时间曝光来做了。我有点不明白，电镜本身也有low dose模式吗？不是自己调节的？

2010本身有一个low dose模式，可以用一些命令调出来，不过我从来没试过。

第一次听说呢，我看到金老师的ppt有张片子说是用这个模式拍过分子筛的高分辨像，但不知道是不是如你所说的那种模式。