用波长色散型XRF测标准样品，计数率低很多

什么样的标准样品，计数率低到什么程度，说说清楚吧

你测什么类型的样品？

您好！标准样品是金属圆片，一个是钛合金（Ti的标准计数率是10400，测的值才1900左右），另外一个是不锈钢（Cr的标准计数率是6500，测的值才1600左右；Fe的标准计数率是34000，测的值才4400左右）。
仪器是美国产的，手动调角，仪器运输过一次，就成这样了。

应该是光路问题的可能性较大点，是不是运输过程中震动大了，导致仪器内部可运动部件位移了？

可移动的就是测角仪部分，调零和晶体调整都试过了，没有变化。谢谢回复！

平时用的是EDX，可以先查看下是否通讯有问题，如果没有可能配件有问题，供参考

谢谢！

也不一定哦，比如视野光阑，晶体都是可能瘦震动的，一点点偏移就可能导致计数率锐减的。
另外，假如因为2-Theta发生过偏移而微调过晶体，那么最大可能就是晶体位置偏差引起的，可以试着在扫描时微调下晶体的位置。

可能既不是晶体本身位置误差也不是测角仪角度漂移导致的，而是θ（晶体）——2θ（探测器）相互关系发生细微变化造成的。解决方法是：将确定θ——2θ间关系的齿轮松开，在测量钛（正比计数系统）或测量铁（闪烁计数系统）的角度微调θ或2θ，直至计数不再增加为止，然后紧固齿轮。以上是针对一部马达同时驱动θ（晶体）——2θ（探测器）系统而言。如果两者是由两部马达单独驱动，则可在监控模式下微调达成。当然，上述过程是在X射线开启的情况下完成的。