关于TEM和SEM样品制备的问题？

做SEM前要做喷C处理，测试时在保证观察的前提下尽量离极靴远

这和样品粒径有关，没有一个配比的定值。对SEM，可以直接观察，但要保证样品牢固粘在样品台上，工作距大些；对TEM，纳米颗粒很难分散，尽量配稀一点，超声时间以5分钟为单位加减做做试验看。

看到这种，我就想那些浸没式物镜对着铁磁的岂不是束手无力了啊。。

也不完全是啊，其实最主要的是避免磁性样品被吸到极靴上或者极靴里，只要保证了这点，别的都好说。大不了象散的调整量加大一个档位。像本论坛的林老师，就曾经用Semi-in-lens的S-4800挑战过四氧化三铁，他有丰富的实战经验和话语权~

是啊，还干扰极靴磁场，不过浸透的没接触过。4800之前在北大用过一次，还不知道是半浸没的呢，3400不是浸没的吧，我现在用的是3400.回头找林老师请教下磁性问题，林老师网名是什么来着？

钨灯丝的一般都是外透镜的，3400也是。林老师就是本版专家Linzq，经常在线

哦，谢谢赐教，找机会骚扰林老师去，哈哈

我之前做过一个有磁性的样品的成分分析，我将样品黏在样品台上时，用铜胶带把不要观察的地方都贴住，只留下需要观察的地方。这样磁性会小一点，对机台的影响也会小一点。工作距离大一些也是必要的。

应助达人

nova是半浸没式的吧？可以用TLD拍拍磁性粉末不？