对于100微米的微金刚石有没有更好的制备方法

对于这种样品 出了FIB 想不出来其它的了 哈哈

不好意思，点错了，对你的帖子进行编辑了，

对于这个样品的制备，我们也正在为此发愁，不知道以下方法是否可以，好像操作起来也有一定困难，请还提出你宝贵的评论啊

1、想办法均匀的平摊金刚石在一个铜环大小的中心位置

2、然后一管子套住进行包埋

3、进行切片，厚度在2mm左右即可，避免切除造成样品被崩掉

4、粘一个固定底座上进行单面磨抛，在磨抛面粘铜环

5、对另外一名进行磨抛，最后进行离子减薄

我认为形貌可以SEM看，透射电镜没法看100微米的形貌，所有用FIB制备样品也可以的（看局部）

SEM是可以，这个已经做过了，正是由于透射没法观察这么厚的样品，所以想改进一下制备工艺，看能否实现除了FIB的TEM样品制备

的确，我的这个制备想法，可能离子减薄后，能产生薄区的颗粒有限，也如你说的是一个费时费力的活，我们现在就是想弄一个制备工艺，好批量化的观察，想试试FIB之外的方法，毕竟FIB的制备也是受到诸多的限制，实在不行，也只能重回FIB这条路了

这个靠手工磨制恐怕不行。三角架机械研磨应该可以，但是也要求很高的技术。
在载玻片上粘一片透明胶带，按平，在显微镜下把金刚石摆上去，周围铺上粒度接近的硬材料，比如氧化铝。铺好后直径接近铜管内径。然后套上一小段铜管，长度大概5mm左右，然后把树脂滴进去，直到填满。固化后，撕下胶带，残余的用丙酮清除。多余铜管切掉，然后研磨。
如果金刚石比树脂轻，会漂起来，那就没办法了。

轻的话应该可以用双面胶固定

在样品中加入同硬度的硬材料，这是好办法，非常感谢蓝莓提供建议

有没有什么办法能保证在同一样品中能同时看到多个金刚石颗粒呢