ICP光谱
悠旸
第1楼2012/07/10
检出限肯定比轴向观测高多了,跟垂直炬管侧向观测大体相当。
xiaoxun929
第2楼2012/07/10
我大概看过双向光路图,其中轴向观测是没有问题的,直接进行观测,而侧向观测则是通过几个光学镜面反射后才能进入光路,才能达到检测目的,而镜面反射势必造成光量值的损失啊。该检出限和垂直炬管侧向能相当吗?尤其是对于分析钢铁,合金这类样品,不知双向观测中的侧向观测是否可以完美测试,基体干扰现象,背景噪声等能否和垂直炬管相当呢?谢谢。
第3楼2012/07/10
四年
第4楼2012/07/10
PE5300,没用过径向的测试过样品,不过在调最佳观测点时测10ppm的锰强度还比不上轴向观测1ppm锰强度。
vensterlz
第5楼2012/07/11
双向观测仪器的侧向观测检出限比纯粹垂直观测的检出限高大概3-5倍的样子。
第6楼2012/07/11
那你用的是5300DV咯,那么你们平时使用侧向观测这种方式吗,你们经常测试什么样品。谢谢。
第7楼2012/07/11
敢问大侠做过此类实验?谢谢
第8楼2012/07/11
从未用侧向观测这种方式检测过样品,平时都是测塑胶,涂层酸消解样品玩具类的。
第9楼2012/07/12
原来大侠是在做玩具的,咨询下,做玩具类的样品,一般需要什么前处理设备,,多谢。。。
第10楼2012/07/12
无机的前处理就是加热板,石墨消解仪,微波,恒温振荡水槽,有机的前处理超声波萃取仪,索氏萃取仪,旋转蒸发仪。基本就是这些了。新的EN71-3出来要求要些什么仪器就不知道了,现在没做玩具了。
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