高分子膜的SEM图片处理，需要用到图像灰度与实际表面突起高度的关系，

这是2006年的问题，看上面说“未解决”，就说一下吧。
要解决的问题是：“需要用到图像灰度与实际表面突起高度的关系”。先说结论是，“图像灰度与实际表面突起高度”之间没有对应关系，更不存在定性的数学表达式。而是，图像灰度与实际表面由于表面起伏、凸凹而产生的微区表面倾斜有直接关系。这包括微区表面倾斜的角度和倾斜的方向，这是产生扫描图像形貌特征的最重要因素。我想任何一本关于扫描电镜的书都可以找到这个结论。
举个例子。典型的一种解理断口是河流花样。河流花样之间的许多解理小平面都存在有高度差，但在同一个解理面上的许多不同高度的解理小平面都具有相同的灰度。
所以结论就是上面所说的了。