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AFM中如何自动将raw data转换成Force-separation曲线

扫描探针显微镜SPM/AFM

  • 一般来说AFM测到的原始数据raw data是Deflection (V)-Piezo displacement (nm)曲线。从这条曲线的constant compliance部分可以求出其斜率，即灵敏度（V/nm）。用这个斜率可以把电压的变化转换成探针悬臂的形变Zc，从而求出F（F=kc×Zc）。而Force-Separation曲线的separation=Zc+Piezo displacement。
    一般的AFM自带软件都会自动将raw data转换成Force-separation曲线，但是其中的转换过程基本相同

    AFM自带软件都会自动将raw data转换成Force-separation曲线哪位高人可以分享下转换过程不！
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  • unht

    第1楼2013/03/22

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